測試參數對鼓室導抗測試結果的影響

1、測試參數對鼓室導抗測試結果的影響測試參數對鼓室導抗測試結果的影響王海濤1鐘乃川1△近100余年，特別是近30年的研究發(fā)現，許多因素可影響鼓室導抗圖的形態(tài)及各種鼓室導抗測值的大小，其中測試參數的設置即為最重要的因素之一。本文綜合近年來已發(fā)表的有關文獻，對這一問題的研究狀況進行綜述，以供同道參考。1探測音探測音主要指探測音的頻率。1.11.1單頻探測音單頻探測音單成分鼓室阻抗測試是最早應用于臨床的聲導抗測試技術。開始僅僅選擇了220或22

2、6Hz低頻探測音。其后，Hirsch、Hunter和Margolis等人先后報道某些中耳疾病患者在低頻探測音時表現為正常鼓室導抗圖，而在較高頻探測音時卻出現了異常鼓室導抗圖，故建議加用678、1000Hz等高頻探測音或共振頻率探測音進行測試〔1〕。1965年Moller觀察了貓的220～800Hz探測音間的鼓室壓圖，發(fā)現隨著探測音頻率的升高，阻抗圖的“V”形凹陷逐漸變深；外耳道正壓時，高頻探測音的導抗值要高于低頻探測音的導抗值。1970

3、年Liden對正常人作了同樣的研究，發(fā)現探測音頻率越高，阻抗圖的凹陷越深越寬，峰壓點越偏正壓側。其后Colletti(1976)對200～2000Hz探測音頻率與鼓室導抗圖之間的關系進行了更系統和更深入的研究，曾稱多頻率探測音鼓室導抗圖測試，實為許多不同頻率的單頻探測音鼓室導抗圖的組合。Colletti指出，探測音頻率不同，鼓室導抗圖的形態(tài)及其各種導抗值的大小亦不同。根據探測音的頻率分為3個區(qū)：①低頻探測音區(qū)。頻率范圍為200～600H

4、z，在阻抗圖中表現為“V”型圖，在導納圖中表現為“∧”型圖。②中頻探測音區(qū)。600～1350Hz之間，阻抗圖表現為“W”型，導納圖表現為“M”型。③高頻探測音區(qū)。1350～2000Hz之間，阻抗圖表現為“∧”型，導納圖表現為“V”型。國內外許多學者報道：226Hz探測音正常鼓室導抗圖全部為單峰型，678Hz探測音鼓室導抗圖則部分出現了雙峰型，1000Hz探測音鼓室導抗圖則主要以雙峰型為主；在這3種探測音條件下，聲導(G)、聲納(B)、聲

5、導納(Y)圖的各種測值均有顯著差異〔2～5〕。筆者曾在這方面作過較系統的研究工作，發(fā)現：探測音頻率越高，Y、B、G圖的峰數比例越高，且其峰最大靜態(tài)Y、B、G值，峰補償Y、B、G值，外耳道容積Y、B、G值，峰壓值等均有顯著變化〔2〕。共振頻率探測音是指在進行鼓室導抗測試時，反映鼓室質量和勁度因素的質納(Bm)和順納(Bc)或質抗(Xm)和順抗(Xc)相等，中耳的導納或阻抗相位角是0，此時的探測音即為共振頻率探測音，其頻率為共振頻率探測音頻

6、率〔1〕。共振頻率探測音是一種特殊的單頻探測音，在正常人中，其頻率恰好位于多頻率探測音之中頻區(qū)，表現為“M”或“W”型鼓室導抗圖。1993年Margolis等〔1〕報道了8種共振頻率的測定方法及其正常值范圍：①多頻鼓室導納壓圖負側法，710～2000Hz；②多頻鼓室導納壓圖正側法，630～1400Hz；③多頻鼓室導納壓圖正負側法，630～2000Hz；④多頻鼓室導納壓圖法，800～1800Hz；⑤掃頻鼓室導納圖負側法，710～2000H

7、z；⑥掃頻鼓室導納圖正側法，3測試成分測試成分測試主要包括聲導納(Ytm)、聲納(Btm)、聲導(Gtm)或聲阻抗(Ztm)、聲阻(Rtm)、聲抗(Xtm)及相位角(Φtm)等，其相應的導抗圖為Y圖、B圖、G圖或Z圖、R圖、X圖及Φ圖等。它們之間的關系用以下公式表示。Rtm=Gtm(Gtm2Btm2)Xtm=Btm(Gtm2Btm2)Φytm=arctanBtmGtmΦztm=arctanXtmRtmΦytm=Φztm由于各種導抗圖所測