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文檔簡介
1、現(xiàn)代電子工業(yè)的發(fā)展不斷向電子產(chǎn)品提出更高的要求,各種產(chǎn)品朝輕薄短小的趨勢發(fā)展。為適應產(chǎn)品需求,配合日益縮小的芯片面積,封裝工藝不斷強化微細封裝能力,I/O引腳數(shù)的增加、焊盤尺寸和間距的減小、引線直徑的減小,驅動了半導體封裝過程的精細裝配技術的發(fā)展,例如鍵合過程的瞬時區(qū)域快速穩(wěn)定的接觸檢測、精確的力/位移鍵合控制、平滑的鍵合控制模式轉換等。這些技術改變了引線鍵合機的功能和結構,從而使更深入、更精確的研究和控制引線鍵合過程成為必然。
2、 本課題面向熱超聲引線鍵合過程,理論和實驗相結合,主要開展了以下工作: 1)采用Polytec激光掃描測振儀,通過非接觸測量實驗,完成了對引線鍵合機實時鍵合過程劈刀末端Z軸運動信號的提取,并對采集信號進行了位移、速度、加速度分析,描述了鍵合過程中劈刀末端Z軸運動的動態(tài)變化特性,獲得了相關實際運動參數(shù)值; 2)采用TektronixTDS2014B型數(shù)字存儲示波器,實驗提取了引線鍵合機Z軸伺服電路板有關Z軸運動的實時內部電
3、信號,包括真實位置信號、期望位置信號、電機電流感知信號、速度信號、預放大輸出信號等,獲得了完整的鍵合周期信息,并綜合分析了引線鍵合機有關Z軸運動的內部電信號特征。 3)以實驗測量速度信號作為輸入,開展了一種新的基于卡爾曼濾波的接觸檢測算法的研究,并通過Matlab仿真實現(xiàn),證明了新算法在接觸檢測應用上的有效性,并通過比較新算法和傳統(tǒng)的閥值接觸檢測算法的接觸檢測判定效果,證明了新算法的優(yōu)越性。 實驗和仿真結果證明,上述研究
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