定位與檢測(cè)陣列的構(gòu)作及其存在性.pdf

1、隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展，軟件系統(tǒng)變得越來(lái)越龐大，軟件測(cè)試成為保證這些系統(tǒng)質(zhì)量的一個(gè)關(guān)鍵手段．測(cè)試時(shí)，組件之間的交互作用復(fù)雜、多變，難以預(yù)料．理論上，人們可以對(duì)所有可能的組件之間的交互作用進(jìn)行逐一測(cè)試，但這在實(shí)踐上是不可行的．為盡可能少地使用測(cè)試用例來(lái)有效地檢測(cè)這些組件以及它們之間的相互作用對(duì)系統(tǒng)產(chǎn)生的影響，從而在保證測(cè)試用例集錯(cuò)誤檢測(cè)能力的基礎(chǔ)上盡可能地降低測(cè)試成本，人們提出了基于（混合）覆蓋陣((mixcd) covcring ar

2、rays)的軟件測(cè)試(簡(jiǎn)稱(chēng)組合測(cè)試，combinatorial testing或interaction tcsting)方法．人們發(fā)現(xiàn)以（混合）覆蓋陣作為測(cè)試方案，可從N次試驗(yàn)結(jié)果獲知k個(gè)組件（因子）中任意t個(gè)因子組合是否存在交互影響錯(cuò)誤，但具體交互影響的錯(cuò)誤模式不能確定．為此，2008年Colbourn和McClary引入了兩類(lèi)新的陣列叫做定位陣列和檢測(cè)陣列，它們是兩類(lèi)特殊類(lèi)型的（混合）覆蓋陣．粗略地說(shuō)，用(d，t)-定位陣列作為測(cè)試

3、方案，可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果確定d個(gè)強(qiáng)度為t的交互影響錯(cuò)誤；而用(d，t)-檢測(cè)陣列作為測(cè)試方案，同時(shí)可以判別是否存在多于d個(gè)強(qiáng)度為t的交互影響錯(cuò)誤，由此，構(gòu)作測(cè)試用例集個(gè)數(shù)N盡可能地小且強(qiáng)度t盡可能地高的定位與檢測(cè)陣列成為當(dāng)前組合設(shè)計(jì)理論和計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域研究的一個(gè)熱點(diǎn)，本博士論文主要研究定位與檢測(cè)陣列的構(gòu)作及其存在性，這中間涉及到定位與檢測(cè)陣列的最優(yōu)性判別準(zhǔn)則、組合特性刻畫(huà)、構(gòu)作以及存在性結(jié)果．
　　 本文共有六章.前兩章主要給出了

4、本博士論文的研究背景以及相關(guān)概念和已知結(jié)果.
　　 在第三章，我們主要研究一致水平的最優(yōu)檢測(cè)陣列構(gòu)作及其存在性結(jié)果，建立了一致水平的(d，t)-檢測(cè)陣列的最優(yōu)性判別準(zhǔn)則，證明了最優(yōu)檢測(cè)陣列與一類(lèi)具有超單性質(zhì)的正交表的等價(jià)關(guān)系．利用這個(gè)等價(jià)關(guān)系，構(gòu)造了大量的最優(yōu)檢測(cè)陣列．特別地，當(dāng)υ≥3時(shí)，除了可能的例外（t，υ）∈{(2，6)，(3，6)}，最優(yōu)檢測(cè)陣列(2，t)-DTA(N,5，υ)存在，其中t=2或3．
　　 在第四

5、章，我們研究了至多兩個(gè)錯(cuò)誤的最優(yōu)定位陣列．首次建立了其存在的最小下界，并且證明了達(dá)到下界的最優(yōu)定位陣列可以用具有預(yù)定性質(zhì)的正交表進(jìn)行等價(jià)描述．利用這個(gè)組合特性刻畫(huà)，我們給出了若干構(gòu)作最優(yōu)定位陣列的方法，進(jìn)而得到了兩類(lèi)新的最優(yōu)定位陣列．
　　 在第五章，我們研究了k=t+2且t∈{2,3,4,5}超單正交表的構(gòu)作方法，并給出了t=3，k=5的超單正交表的大部分存在性結(jié)果．
　　 在第六章，我們研究了混合水平的最優(yōu)檢測(cè)陣列構(gòu)