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文檔簡介
1、高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)測試軟件研究課題是針對實(shí)際工作中A/D靜態(tài)參數(shù)測試遇到的困難而提出的。目前,國內(nèi)大多數(shù)A/D靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是利用傳統(tǒng)的外掛信號源與數(shù)字集成電路電路測試系統(tǒng)集成而成。在測試時由外掛信號源提供模擬信號,由數(shù)字系統(tǒng)提供被測A/D的數(shù)字激勵并捕獲被測A/D產(chǎn)生的數(shù)字量,再對數(shù)字量進(jìn)行算法處理得出測試結(jié)果。在這種測試方法中,由測試系統(tǒng)的模擬部分產(chǎn)生鋸齒波作為測試波形。鋸齒波以微小步進(jìn)上升,就會使被測試A/D的數(shù)字輸出逐步變
2、大。此時通過統(tǒng)計(jì),得知每一個被測A/D的數(shù)字輸出碼對應(yīng)的鋸齒波微小步進(jìn)的次數(shù),就可計(jì)算出被測A/D的各項(xiàng)靜態(tài)參數(shù)。但由于鋸齒波的步進(jìn)很小,因此當(dāng)測試高分辨率的A/D時,被測試的信號就很可能被誤差所掩蓋。 本設(shè)計(jì)先用美國IMS公司的ATS60E大規(guī)模集成電路測試系統(tǒng)對A/D進(jìn)行測試,獲得測試數(shù)據(jù)后,將依據(jù)直方圖法的原理,用美國國家儀器公司的Labview軟件程序,對所獲得的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到被測試A/D的各項(xiàng)靜態(tài)參數(shù)。先推導(dǎo)出直方
3、圖測試法的高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)計(jì)算公式,并用Labview對靜態(tài)參數(shù)計(jì)算公式的算法編程,完成了高分辨率A/D靜態(tài)參數(shù)直方圖測試法的具體實(shí)現(xiàn)。鋸齒波以微小步進(jìn)上升,被測A/D的LSB<,IDEAL>至少是鋸齒波微小步進(jìn)的16倍且是整數(shù)倍數(shù)。由于Labview是圖形化的程序語言,又稱為“G”語言,是一個面向最終用戶的工具,它提供了實(shí)現(xiàn)儀器編程和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的便捷途徑。使用這種語言編程時,基本上不寫程序代碼,取而代之的是流程圖。因此在設(shè)計(jì)好
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