FPGA在PCB測試機(jī)及神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)中的應(yīng)用研究.pdf

1、FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)在數(shù)字電路設(shè)計(jì)中具有設(shè)計(jì)周期短、投資小、靈活性好等優(yōu)點(diǎn)，其被廣泛應(yīng)用于控制、通信、圖像處理等領(lǐng)域。隨著半導(dǎo)體制造工藝的提高，F(xiàn)PGA的集成度越來越高，其功能越來越強(qiáng)，在各應(yīng)用領(lǐng)域中的優(yōu)勢也日益突出。 本論文結(jié)合FPGA的優(yōu)點(diǎn)，以FPGA 在 PCB(印刷電路板)測試機(jī)及神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中的應(yīng)用為研究對象，主要研究了PCB測試機(jī)測試算法和BP學(xué)習(xí)算法的FPGA實(shí)現(xiàn)。 本文首先就PCB測試機(jī)的基本原理及系

2、統(tǒng)調(diào)試過程進(jìn)行了介紹。然后結(jié)合FPGA 的特點(diǎn)及其在硬件設(shè)計(jì)中的優(yōu)勢，詳細(xì)闡述了PCB測試機(jī)的測試算法在FPGA 上的實(shí)現(xiàn)過程。在PCB測試機(jī)中，其測試算法是整個(gè)系統(tǒng)中最核心的部分，它直接決定系統(tǒng)的功能及執(zhí)行速度。論文研究了采用狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖方式實(shí)現(xiàn)幾種測試算法的過程，并重點(diǎn)研究了兩點(diǎn)間絕緣測試算法的并行執(zhí)行過程。 本文第二部分研究了基于FPGA 的 BP 神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)算法實(shí)現(xiàn)。重點(diǎn)研究了超越函數(shù)e<'x>及Sigmoid函數(shù)實(shí)現(xiàn)過