基于粒子群算法和螞蟻算法的瞬態(tài)電流測(cè)試生成研究.pdf

1、隨著微電子技術(shù)的迅猛發(fā)展，VLSI的集成度和復(fù)雜度不斷提高，給現(xiàn)有的測(cè)試技術(shù)和測(cè)試儀器帶來(lái)了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。 20世紀(jì)80年代初，人們提出了測(cè)量CMOS電路穩(wěn)態(tài)電流（IDDQ）的方法?；陔娏鞯腎DDQ測(cè)試方法與CMOS電路有很好的兼容性，它可檢測(cè)出電壓測(cè)試方法不能檢測(cè)的故障和物理缺陷，目前已成為一種廣為接受的重要的CMOS數(shù)字集成電路的測(cè)試方法。 90年代中期，人們又提出了瞬態(tài)電流測(cè)試（IDDT Testing）的概念，企

2、圖通過(guò)觀察和分析電路在其內(nèi)部狀態(tài)發(fā)生變化時(shí)所產(chǎn)生的瞬態(tài)電流，來(lái)發(fā)現(xiàn)某些不能被其它測(cè)試方法發(fā)現(xiàn)的故障。這種方法作為傳統(tǒng)測(cè)試方法的一個(gè)補(bǔ)充，正逐步受到研究領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的關(guān)注和研究。 在瞬態(tài)電流測(cè)試過(guò)程中，核心問(wèn)題是確定施加什么樣的激勵(lì)，可以在任何情況下確保激活故障，同時(shí)又能使測(cè)量?jī)x器測(cè)量出來(lái)。自動(dòng)測(cè)試向量生成（ATPG）所要解決的問(wèn)題就是自動(dòng)推導(dǎo)出被測(cè)電路的測(cè)試激勵(lì)。 瞬態(tài)電流測(cè)試向量的產(chǎn)生需要一次產(chǎn)生兩個(gè)或兩個(gè)以上向量

3、。其測(cè)試向量產(chǎn)生比較復(fù)雜，尋找高效的測(cè)試向量產(chǎn)生算法對(duì)提高測(cè)試效率具有重要意義。本文重點(diǎn)對(duì)瞬態(tài)電流測(cè)試生成算法進(jìn)行研究。從開(kāi)路故障的激活條件入手，利用粒子群算法和螞蟻算法來(lái)生成瞬態(tài)電流測(cè)試向量，并通過(guò)波形模擬器進(jìn)行模擬測(cè)試，測(cè)試結(jié)果驗(yàn)證了算法的有效性。在瞬態(tài)電流測(cè)試中，粒子群算法將故障定義為粒子要搜尋的食物，粒子的位置定義為測(cè)試向量。螞蟻算法將故障定義為螞蟻要搜索的食物，將搜索路徑定義為測(cè)試向量。 針對(duì)瞬態(tài)電流測(cè)試的可行性，將兩