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文檔簡介
1、隨著ASIC設計規(guī)模和復雜度的不斷增加，驗證已經成為制約大規(guī)模芯片設計的主要瓶頸之一。如何將驗證時間降低到一個合理的程度，以及如何確保驗證的完備性，是驗證工作面臨的兩個主要難題。 為此，本文采用基于覆蓋率的驗證方法，對一款分組傳送芯片中的三層轉發(fā)模塊ⅡP進行了驗證，論文的重點是尋找驗證時間和驗證質量之間的平衡點。論文詳細闡述了基于覆蓋率的隨機驗證過程以及驗證環(huán)境的搭建，提出從代碼覆蓋率和功能覆蓋率兩方面保證驗證的完備性和可度量性
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