覆蓋率導(dǎo)向的驗證方法的研究與實現(xiàn).pdf

1、現(xiàn)代集成電路(Integrated Circuits，IC)設(shè)計中，芯片的規(guī)模和復(fù)雜程度正呈指數(shù)增加，為了保證所設(shè)計芯片功能的正確性，需要比以往更多的時間和人力，困難度大幅增加。而且目前功能驗證能力已經(jīng)遠遠落后于設(shè)計能力，功能驗證正成為大規(guī)模芯片設(shè)計的瓶頸。近年來，驗證方法的改進主要體現(xiàn)在產(chǎn)生了一些新的特別的驗證方法，比如基于斷言的驗證、功能覆蓋率、可約束的隨機激勵等等；而現(xiàn)在驗證方法改進的趨勢漸漸轉(zhuǎn)移到如何形成更加系統(tǒng)化和結(jié)構(gòu)化的驗證

2、過程。 覆蓋率導(dǎo)向的驗證方法是一種新型的驗證方法學(xué)，它可以極大的提高驗證的效率，符合驗證方法學(xué)的發(fā)展規(guī)律，并且已經(jīng)在工業(yè)界有許多實際的應(yīng)用，是實踐證明的先進的方法?，F(xiàn)在各個EDA廠商也非常重視對覆蓋率導(dǎo)向的驗證方法的支持，所以這種方法必然會在一段時間后成為IC工業(yè)設(shè)計當(dāng)中主流的驗證方法之一。 本文對覆蓋率導(dǎo)向的驗證方法進行了細致的研究，對覆蓋率導(dǎo)向的驗證方法的整個驗證環(huán)境及其各個要素的特點進行了總結(jié)，并著重于覆蓋率導(dǎo)向的

3、驗證環(huán)境的建立方法的研究。論文從testbench的結(jié)構(gòu)、功能覆蓋率模型的建立、驗證環(huán)境中激勵的產(chǎn)生和響應(yīng)的檢查等幾個方面，論述了覆蓋率導(dǎo)向的驗證方法與其他驗證方法的區(qū)別，并介紹在建立覆蓋率導(dǎo)向的驗證環(huán)境的過程中的一些細節(jié)。論文中還介紹了一些新的驗證方法，如斷言驗證，及它們在覆蓋率導(dǎo)向驗證中的應(yīng)用。作者針對64位CPU設(shè)計，應(yīng)用硬件驗證語言建立了覆蓋率導(dǎo)向的驗證環(huán)境，把理論應(yīng)用于實踐，最后通過實驗，對覆蓋率導(dǎo)向的驗證方法和其他驗證方法進