覆蓋率導(dǎo)向驗證方法的研究和應(yīng)用.pdf

1、隨著現(xiàn)代大規(guī)模集成電路的發(fā)展,芯片設(shè)計復(fù)雜度不斷提高,設(shè)計規(guī)模不斷擴(kuò)大,驗證設(shè)計功能正確性的困難度也大幅增加,需要投入的人力呈指數(shù)增長。功能驗證逐漸成為SoC設(shè)計的瓶頸,驗證方法學(xué)得到越來越多的重視。
　　 近年來,涌現(xiàn)了一批新的驗證方法,比如基于斷言的驗證、功能覆蓋率、基于事務(wù)的驗證,可約束的隨機(jī)激勵等等;目前驗證方法改進(jìn)的趨勢漸漸轉(zhuǎn)移到如何形成更加系統(tǒng)化和結(jié)構(gòu)化的驗證過程。
　　 覆蓋率導(dǎo)向的驗證方法是一種新型的驗證

2、方法學(xué),以其貼近設(shè)計的思維方式,極大的提高驗證的效率,并且已經(jīng)在業(yè)界有許多實際的應(yīng)用。它基于分層結(jié)構(gòu)驗證方法,支持激勵的隨機(jī)產(chǎn)生,自動檢查結(jié)果,以覆蓋率的量化分析為驗證的核心,通過對覆蓋率的分析,判斷驗證的完備性。這種機(jī)制大大減少了驗證過程的工作量。隨著支持功能覆蓋點、斷言和測試平臺約束規(guī)范的SystemVerilog在業(yè)界的普及,以及越來越多的約束隨機(jī)測試平臺的涌現(xiàn),這種方法會在一段時間內(nèi)對IC設(shè)計工業(yè)產(chǎn)生巨大的影響。