光學(xué)頭檢查機(jī)系統(tǒng)開(kāi)發(fā).pdf

1、光學(xué)頭產(chǎn)業(yè)是我公司的主導(dǎo)產(chǎn)業(yè)，我公司現(xiàn)擁有大量的以模擬電路伺服方式的光學(xué)頭檢調(diào)機(jī)，隨著光學(xué)頭產(chǎn)品的更新?lián)Q代，相應(yīng)的檢調(diào)設(shè)備也需要更新，而原有檢調(diào)機(jī)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、體積大、成本高，不再適應(yīng)公司及行業(yè)的發(fā)展，因此，公司決定開(kāi)發(fā)一套以嵌入式系統(tǒng)為平臺(tái)的DVD數(shù)字伺服檢查機(jī)，以增強(qiáng)公司的競(jìng)爭(zhēng)力。 論文闡述了我國(guó)光學(xué)頭產(chǎn)業(yè)的發(fā)展現(xiàn)狀；對(duì)DVD光學(xué)頭伺服誤差的檢測(cè)原理進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明；對(duì)DVD光學(xué)頭中的關(guān)鍵部件—力矩器進(jìn)行數(shù)學(xué)建模、分析，為數(shù)字伺

2、服系統(tǒng)的設(shè)計(jì)提供了理論依據(jù)。 論文中對(duì)LD發(fā)光電路、聚焦誤差信號(hào)FE、循跡誤差信號(hào)TE、RF信號(hào)的處理、主軸電機(jī)驅(qū)動(dòng)電路以及CD光學(xué)頭性能中的E、F相位差（GR）檢測(cè)電路進(jìn)行了詳細(xì)地說(shuō)明。在軟件方面，利用ARM芯片負(fù)責(zé)與上位機(jī)進(jìn)行通信，完成系統(tǒng)初始化，F(xiàn)PGA芯片控制A/D、D/A芯片以及主軸電機(jī)的轉(zhuǎn)速控制。 目前該檢查機(jī)已經(jīng)能夠很好的對(duì)光學(xué)頭進(jìn)行聚焦伺服和循跡伺服，準(zhǔn)確檢測(cè)光學(xué)頭中的各項(xiàng)參數(shù)，得到了日本松下公司的認(rèn)可。