2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、隨著集成電路設(shè)計規(guī)模的不斷增長和設(shè)計復(fù)雜度的不斷提高,集成電路的驗證工作變的越來越困難。雖然傳統(tǒng)驗證方法盡力保持技術(shù)更新以適應(yīng)設(shè)計尺寸以及復(fù)雜度的增加,但驗證依然是當(dāng)今集成電路設(shè)計中面臨的最大挑戰(zhàn)。硬件描述語言用于寄存器傳輸級的設(shè)計,而驗證語言需要更加抽象的性能,這樣就造成了硬件描述語言與硬件驗證與語言的分向發(fā)展,從而使整個設(shè)計和驗證的過程變得復(fù)雜。驗證工作面臨的挑戰(zhàn),在極大程度上促進了驗證技術(shù)的發(fā)展。為了彌補設(shè)計與驗證之間存在的鴻溝,

2、驗證工程師不斷的提出一些高級驗證方法與技術(shù),使其提高驗證工作的效率。 本文介紹了傳統(tǒng)驗證技術(shù)中的相關(guān)概念以及功能驗證的一般方法,并分析它們的優(yōu)缺點。傳統(tǒng)的驗證平臺針對設(shè)計對象使用測試用例進行直接測試,存在這工作量大,周期長的缺點。針對這些問題,本文先介紹當(dāng)前流行的高級驗證技術(shù),其中,隨機約束自動產(chǎn)生測試用例,使驗證變得自動化,并能發(fā)現(xiàn)驗證工程師考慮不到的錯誤;斷言從設(shè)計功能方面對設(shè)計者的假設(shè)和期望進行檢查,便于在仿真過程中對錯誤

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