掃描隧道顯微鏡成像機(jī)制中若干問(wèn)題的理論研究.pdf

1、1982年掃描隧道顯微鏡(STM)的發(fā)明使人類(lèi)第一次能夠從實(shí)空間原子尺度來(lái)觀察和研究物質(zhì)世界,至今為止STM已經(jīng)在物理、化學(xué)等諸多領(lǐng)域取得了巨大成功,不僅是一種較為成熟的微觀結(jié)構(gòu)探測(cè)工具,而且在納米結(jié)構(gòu)操縱、納米器件構(gòu)造等新興技術(shù)領(lǐng)域也顯示出極大潛力.STM圖像是STM所能得到的最直接、最形象地與研究對(duì)象特性相關(guān)的數(shù)據(jù)形式,能獲得材料費(fèi)米面附近電子態(tài)密度的空間局域分布信息,為各種STM實(shí)驗(yàn)所常用工作模式.全面地分析參與電子隧穿過(guò)程中各個(gè)

2、子系統(tǒng)的電子結(jié)構(gòu)和作用,評(píng)估各種條件對(duì)隧道電流的貢獻(xiàn),以及研究STM圖像的形成過(guò)程是我們從STM圖像獲得正確信息的必要前提.影響STM圖像的一個(gè)重要因素是針尖非理想成像的電子態(tài),近年來(lái)有關(guān)吸附分子的針尖的STM成像實(shí)驗(yàn)己有報(bào)道,但其成像機(jī)制和特性并沒(méi)有得到深入研究和足夠的重視.為了理論模擬和研究針尖吸附分子后造成的特殊電子態(tài)對(duì)圖像的影響,我們采用團(tuán)簇模型通過(guò)Gaussian98軟件計(jì)算針尖和樣品各自的電子結(jié)構(gòu),基于Bardeen微擾方法