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1、廣東工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文光電子材料鉭酸鋰晶片化學(xué)機(jī)械拋光過(guò)程研究姓名:杜宏偉申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專(zhuān)業(yè):機(jī)械制造及其自動(dòng)化指導(dǎo)教師:魏昕20040601廣東工業(yè)大學(xué)工學(xué)碩士學(xué)位論文ABSTRACTTantalumlithium(LiTa03),anovelsinglecrystalmaterial,developedandindustrializedwiththedevelopmentofcommunicationandinformatio
2、nindustriesrecently,ownstheexcellentperformancessuchashighMechanicalelectricalcouplingcoefficient,lowerwearresistance,excellenthightemperaturestability,excellentlligh—frequencycapability,etcHowever,researobesontantalumli
3、thiumsinglecrystalwaferaroundworldalestilllackingLiTa03wafersaremachinedUSUSllybychemicalmechnicalpolishinginindustryBasedontheinvestigafionofthemechanicalpropertyoftantalumlithiumcrystalwaferandtheoryanalysisofpolishing
4、movementtracks,thisthesisdiscussesitsmechanismofCMP,presentsitspolishingcharacteristicsandanalyzestheeffectsofpolishingconditionparametersuponCMPTofindouttheeffectiveslurrywithsuitabletypeofoxidizerandconcentration,chemi
5、caletchingexperimentwasappliedtotheIjTa03waferthechemicaletchingeffectswereanalysedbymeasuringetchingrateandXrayspectrumTheexperimentalresultsindicatethatforLiTa03theoxidizersamNaCIOandH202thestabilizatorisKOHandthemosts
6、uitablepHvalueis10ThescratchingtestwascarriedoutwithasinglediamondtooltostudytheremovalmechanismofLiTa03waferbyloadTheAEsignalsweremeasured,andthescratchedsurfacesofLiTa03wafersindifferentconditionswereobservedbymetallog
7、raphymicroscopeTheresultsshowthatthescratchedsurfaceschangefromelasticdeformationarea,plasticdeformationareaandfractureareawithsquamaandcrackForremovingmaterialofLiTa03waferbyplasticdeformationmode,thepolishingpressuresh
8、ouldbelowthan725kP亂ForselectingsuitableCMPconditions,themovementofpolishingwasmodeliingandsimulatingTheanalysedresultsshowthatthereasonablerotatingspeednpanddistanceebetweenworkpieceplatecenterandpolishingplatecenterare6
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