多層硅硅直接鍵合實驗研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著MEMS技術的發(fā)展,直接鍵合技術由于其較好的鍵合質(zhì)量,以及相對于其他鍵合技術對被鍵合材料的限制較少,受到了廣泛的關注。但現(xiàn)在大部分的研究均集中在鍵合理論研究本身,工藝試驗大部分是雙片鍵合,而對鍵合難度更大,實驗要求更高,應用范圍更廣的多層鍵合技術,卻少有提及。本文在已有的硅片直接鍵合理論研究基礎之上,進行了大量的實驗,著眼于解決多層鍵合中的缺陷控制問題,找出了一種能實現(xiàn)多層直接鍵合的可行的工藝方案,具體工作如下:
   ⑴通

2、過設計兩組正交實驗,研究了預處理工藝中,RCA1溶液各參數(shù)對硅片表面接觸角及硅片表面形貌的影響,通過分析,優(yōu)化了處理工藝。
   ⑵通過多次實驗,比較了不同的預鍵合方案的優(yōu)劣,并最終選擇了UV光照活化的預鍵合方案。
   ⑶研究了實現(xiàn)多層直接鍵合的實驗步驟,設計并改進了鍵合甩干夾具,并通過實驗,實現(xiàn)了硅片的多層直接鍵合。
   ⑷提出了一種基于硅硅多層直接鍵合工藝的三維微模具制造方法,以解決采用非晶合金材料加工微

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