平板表面細(xì)微缺陷快速檢測(cè).pdf

1、在鋼帶、布匹、紙張、膠卷、玻璃、塑料薄膜等平板產(chǎn)品的大批量生產(chǎn)過(guò)程中，非接觸的無(wú)損表面檢測(cè)十分重要。光學(xué)測(cè)量是典型的非接觸檢測(cè)方法。其中，CCD(電荷耦合器件)測(cè)量是主要的表面測(cè)量方法之一。 在應(yīng)用CCD進(jìn)行快速檢測(cè)時(shí)，數(shù)據(jù)的處理存在著兩個(gè)主要的問(wèn)題：一是處理速度慢，二是在弧形背景中判別缺陷。 在本文中，作者引入了模擬處理方法、視頻信號(hào)微分和缺陷脈沖計(jì)數(shù)的技術(shù)。利用模擬電路速度快的特點(diǎn)，解決了圖像處理慢的問(wèn)題；利用視頻信

2、號(hào)微分技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了抑制弧形背景，凸顯缺陷毛刺；利用缺陷脈沖計(jì)數(shù)技術(shù)，把缺陷信號(hào)轉(zhuǎn)變成為脈沖序列，通過(guò)對(duì)脈沖的計(jì)數(shù)，實(shí)現(xiàn)了缺陷的判別和報(bào)警；在使用模擬方法的同時(shí)，又結(jié)合了原有的數(shù)字處理方法，利用其保存信息完備，便于處理的特點(diǎn)，選擇性處理圖像，構(gòu)成了模擬、數(shù)字雙通道數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，兼有二者各自的優(yōu)點(diǎn)。 本文中，作者詳細(xì)描述了模擬通道處理的原理、檢測(cè)系統(tǒng)各部分的硬件要求和相關(guān)硬件(缺陷檢測(cè)模塊、直流光源、DAC卡)的研制開(kāi)發(fā)、配套檢測(cè)軟