基于單測(cè)點(diǎn)的模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、模擬集成電路測(cè)試作為目前測(cè)試技術(shù)中的難點(diǎn)，國(guó)內(nèi)外對(duì)其的研究都非?；钴S。相比于數(shù)字電路，模擬電路測(cè)試不管是在理論上還是在工程實(shí)踐上都缺乏統(tǒng)一且有效的標(biāo)準(zhǔn)和方法。模擬電路測(cè)試的過(guò)程主要分為兩個(gè)部分：一是故障診斷，二是故障定位。故障診斷即是通過(guò)某些方法途徑來(lái)判定電路是否出現(xiàn)故障，一般是根據(jù)電路輸出來(lái)診斷電路情況，故障診斷的實(shí)現(xiàn)相對(duì)比較容易。故障定位即在故障診斷的前提下得到電路的故障類型及發(fā)生故障的位置。
　　 本文在基于單測(cè)試點(diǎn)的模擬

2、集成電路測(cè)試診斷技術(shù)方面進(jìn)行了深入的研究。單測(cè)點(diǎn)的模擬集成電路測(cè)試相比多測(cè)點(diǎn)條件下的測(cè)試具有更高的難度，單一測(cè)試點(diǎn)測(cè)試所提取的電路信息有限而且對(duì)電路中參數(shù)變化不敏感。進(jìn)行單測(cè)點(diǎn)模擬電路故障診斷的技術(shù)難度較高但其具有很高的現(xiàn)實(shí)意義。本文通過(guò)研究故障字典法和小波變換等模擬電路測(cè)試方法的特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了通過(guò)多通道濾波器組進(jìn)行子帶分解來(lái)提取子帶的相關(guān)系數(shù)和相干函數(shù)自相關(guān)序列定積分等特征量的方法，實(shí)驗(yàn)證明該方法能夠理想的實(shí)現(xiàn)模擬電路參數(shù)漂移故障的診斷