2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩61頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、本文采用Pechini法制備CaCu3Ti4O12(CCTO)單相材料,并研究其對(duì)材料介電性能的影響;還分別研究了Zr和FeNb摻雜對(duì)CCTO材料介電性能的影響。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,Pechini法被成功應(yīng)用于制備單相的CCTO粉體。與固相反應(yīng)法相比,Pechini法制備CCTO粉體的合成溫度比較低,反應(yīng)時(shí)間也比較短。在介電性能方面,Pechini法制備的樣品的介電常數(shù)比固相反應(yīng)法的樣品高出一倍,損耗也比固相反應(yīng)法的小。通過(guò)阻抗分析發(fā)現(xiàn),Pe

2、chini制備的樣品的晶界電阻率比固相反應(yīng)法的高,而晶粒電阻率比固相法的低。Pechini法也被成功地應(yīng)用于制備CaCu3(Ti1-xZrx)4O12(x=0,0.01,0.02,0.03)粉體。Zr的摻入使得材料的低頻(f≤105 Hz)介電常數(shù)降低,而高頻(f≥107 Hz)介電常數(shù)并沒(méi)有明顯的變化。Zr摻雜的樣品的低頻介電弛豫在室溫下能夠被觀測(cè)到。通過(guò)一個(gè)等效電路模型分析發(fā)現(xiàn),Zr的加入使樣品的晶界電阻率降低,導(dǎo)致低頻弛豫的特征頻

3、率提高,結(jié)果很可能使樣品在室溫下具有較大的低頻響應(yīng)。通過(guò)固相反應(yīng)法成功地制備了FeNb共摻雜的CCTO單相材料CaCu3(Ti1-xFex/2Nbx/2)4O12(x=0.06,0.1,0.2,0.5)。FeNb的摻雜水平的不同對(duì)CCTO介電性能影響不一。在1KHz頻率下,6%和10%的摻雜量使CCTO的室溫介電常數(shù)減小,損耗提高;20%和50%的摻雜量使其室溫介電常數(shù)增大,損耗也增大。與純CCTO相比,所有FeNb共摻雜的樣品介電常數(shù)

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論