EMC暗室性能測試技術(shù)的研究.pdf

1、隨著電子及計算機技術(shù)的發(fā)展，在一個系統(tǒng)中使用的電子電氣設(shè)備越來越多，這些設(shè)備的電氣連接也越來越復(fù)雜，由此產(chǎn)生的電磁兼容問題日漸突出，因此引起了人們對于產(chǎn)品的電磁兼容性問題的重視。電磁兼容性測試就是為了檢驗電子設(shè)備的干擾度及敏感度是否達到相關(guān)標準要求。用電波暗室進行電磁兼容性測試是國際標準認可并長期使用的一種測試技術(shù)，他可以用于電磁干擾度及電磁敏感度的測試。一般來說電波暗室的類型有半電波暗室和全電波暗室，暗室的尺寸有3m、5m和10m。半

2、電波暗室主要是對開闊場進行模擬，全電波暗室是對自由空間進行模擬。
　　 本文討論并深入研究了電波暗室性能測試的幾項主要技術(shù)指標，場校準的主要測試方法。電波暗室的測試性能主要有屏蔽效能(SE)，歸一化場地衰減(NSA)，傳輸損耗和場均勻性(FU)四項，傳輸損耗已被場地駐波比(SVSWR)代替。程序的實現(xiàn)過程主要是采用Delphi編程語言，在程序設(shè)計過程中需要各模塊相互配合實現(xiàn)整個測試過程的合理性及準確性。對于測試人員可能在不同測試