半電波暗室的低頻性能研究.pdf

1、隨著無線通信技術的不斷發(fā)展與應用，電子電氣產(chǎn)品與系統(tǒng)的電磁兼容性問題顯得尤為重要。作為電磁兼容測試系統(tǒng)的重要組成部分—半電波暗室發(fā)揮著不可替代的作用。同時，半電波暗室的性能也受到了越來越多的關注，特別是隨著工作在低頻段的電氣電子設備和系統(tǒng)的數(shù)量不斷增加，半電波暗室的低頻性能對于準確評估其電磁兼容性起到了關鍵性的作用，因此，對半電波暗室的低頻性能研究具有重要的意義和廣闊的應用前景。本文圍繞半電波暗室的性能指標—場均勻性和歸一化場地衰減在低

2、頻段的特性展開研究。主要內(nèi)容如下:
　　(1)基于鐵氧體與屏蔽室的特性分析，采用外推擬合的方法，得到了10kHz～30MHz頻段內(nèi)鐵氧體的電磁參數(shù)，并理論分析了鐵氧體的吸波特性。以二階色散模型在軟件中進行材料參數(shù)的設置，仿真分析了鐵氧體的反射率，根據(jù)理論、仿真和實測對比了鐵氧體的吸波特性，從側面驗證數(shù)據(jù)的可行性。同時，對屏蔽暗室的諧振特性進行了分析，并通過仿真分析可知，鐵氧體能夠抑制屏蔽室的諧振，使半電波暗室在低頻段能夠很好的模擬

3、開闊場。
　　(2)針對場均勻性的研究，闡述了實驗原理與方法，根據(jù)場均勻性測試方法建立了暗室場均勻性的模型，分析對比了鋪設鐵氧體前后的暗室的場強分布，運用FDTD算法對暗室的場均勻性進行了仿真分析，并與某暗室內(nèi)場均勻性的實測值進行了對比分析，結果表明仿真與實測值基本吻合。
　　(3)對于NSA的研究，根據(jù)實驗原理與方法，采用場地參考法對NSA運用FDTD算法進行了仿真分析。同時，進行了實測對比，對比結果表明，仿真與實測是吻合