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文檔簡(jiǎn)介
1、真空單源共蒸法在玻璃襯底上制備Zn摻雜SnS薄膜,對(duì)薄膜進(jìn)行不同條件熱處理(氮?dú)獗Wo(hù)).用X射線衍射儀、原子力顯微鏡、手動(dòng)輪廓儀、光電子能譜儀、紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)、臺(tái)式繁用表等方法對(duì)薄膜物相結(jié)構(gòu)、表面形貌、光、電性能等進(jìn)行測(cè)試表征.
實(shí)驗(yàn)結(jié)果顯示:用Sn:S混合粉末為1:0.8(at%)蒸發(fā)沉積的薄膜,經(jīng)350℃熱處理40min后可獲得空間群為Pcnm(53)簡(jiǎn)單正交晶系SnS多晶薄膜,晶粒沿(004)晶向擇優(yōu)生長(zhǎng).按同
2、樣錫硫配比摻Zn(2wt%、4wt%)后,經(jīng)300℃處理40min得到簡(jiǎn)單正交晶系和面心正交晶系Cmcm(63)兩相混合的SnS薄膜.摻Zn可使薄膜表面致密、孔洞減少.摻Zn前后Sn與S在薄膜中的狀態(tài)都呈Sn+2、S-2,Zn在SnS薄膜中以間隙和替位兩種狀態(tài)存在,化學(xué)態(tài)為+2價(jià).未摻雜的SnS薄膜表面和體內(nèi)元素化學(xué)計(jì)量比分別為:Sn:S=8.76:1,Sn:S=1.90:1,相比之下薄膜表面S損失較大.實(shí)驗(yàn)給出摻Zn2wt%、4wt%
3、后的SnS薄膜表面和體內(nèi)元素化學(xué)計(jì)量比分別為:Sn:S=2.95:1(摻Zn2wt%表面)、Sn:S=1.38:1(摻Zn2wt%體內(nèi)); Sn:S=2.87:1(摻Zn4wt%表面)、Sn:S=1.36:1(摻Zn4wt%體內(nèi)).可見(jiàn)摻Zn可抑制SnS在制備過(guò)程中S的損失,改善薄膜的化學(xué)計(jì)量比.
SnS薄膜直接光學(xué)帶隙為1.95eV,SnS:Zn薄膜(2wt%和4wt%)帶隙變窄,分別為1.375eV、1.379eV,薄
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