嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)性能測(cè)試方法的研究與應(yīng)用.pdf

1、近年來，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展和芯片制造工藝的不斷進(jìn)步，嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)ERTOS(EmbeddedReal--TimeOperatingSystem)逐漸滲透到科學(xué)研究、工程技術(shù)等各個(gè)領(lǐng)域，其性能測(cè)試方法的研究也得到了越來越多的關(guān)注。
　　 嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)ERTOS是傳統(tǒng)的嵌入式系統(tǒng)和實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的結(jié)合。ERTOS具有體積小、可配置、能適用于不同嵌入式環(huán)境的特點(diǎn)；通常采用微內(nèi)核結(jié)構(gòu)，其功能主要有事件管理、時(shí)間服務(wù)、中斷

2、服務(wù)、實(shí)時(shí)調(diào)度等；一般以較強(qiáng)的外部響應(yīng)能力和較高的時(shí)問精度等為主要性能特征，具有一定的可預(yù)測(cè)性。
　　 一般情況下，在操作系統(tǒng)的各項(xiàng)性能中，有多項(xiàng)性能相互之間存在關(guān)聯(lián)關(guān)系，也就是說這些性能不是相互獨(dú)立的。而根據(jù)現(xiàn)行的一些ERTOS性能評(píng)測(cè)方法，生成的測(cè)試方案大多是基于單個(gè)或少數(shù)測(cè)試性能的，且沒有明確定義相關(guān)性能間的相互影響、關(guān)聯(lián)關(guān)系，因而通常不能完全客觀的評(píng)價(jià)實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的性能。針對(duì)這個(gè)問題，本文將被測(cè)試系統(tǒng)中相關(guān)的性能集合劃分

3、為兩個(gè)子集，通過定義兩個(gè)性能集合中元素間的關(guān)系來描述性能之間的依賴關(guān)系，在此基礎(chǔ)上提出了一種將被測(cè)試的操作系統(tǒng)相關(guān)性能劃分為影響集和評(píng)測(cè)集的雙指標(biāo)集測(cè)試模型。
　　 本文首先設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了嵌入式實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)。在對(duì)已有測(cè)試用例方法進(jìn)行分析的基礎(chǔ)上，以u(píng)C/OS-II為測(cè)試對(duì)象，基于經(jīng)典的Rhealstone方法生成了測(cè)試用例集，并在研制的測(cè)試系統(tǒng)上進(jìn)行了實(shí)例測(cè)試。
　　 基于本文提出的雙指標(biāo)集測(cè)試模型，以u(píng)C/OS