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1、綜合孔徑輻射計(jì)是一種以高信號(hào)處理復(fù)雜度和硬件復(fù)雜度為代價(jià),以換取空間分辨率和時(shí)間分辨率(成像時(shí)間)的提升的新型成像體制。為了進(jìn)一步降低綜合孔徑輻射計(jì)冗余基線(xiàn)的數(shù)量,減少綜合孔徑輻射計(jì)系統(tǒng)的復(fù)雜度和成本,圓形陣列和旋轉(zhuǎn)陣列形式被提出,然而其缺陷在于過(guò)于復(fù)雜的亮溫圖像反演過(guò)程,因?yàn)樵撽嚵信挪挤绞较碌牟蓸訕颖静皇蔷鶆蚍植加谡麄€(gè)采樣平面,常規(guī)的標(biāo)準(zhǔn)傅立葉變換不能直接運(yùn)用于此反演過(guò)程。分布式綜合孔徑也因其子陣列之間存在較大距離,而導(dǎo)致基線(xiàn)缺失和可
2、見(jiàn)度數(shù)據(jù)非均勻分布的情況。本文著重研究非均勻樣本下的綜合孔徑輻射計(jì)反演方法。
論文首先全面介紹了綜合孔徑微波輻射計(jì)和非標(biāo)準(zhǔn)快速傅立葉變換算法的研究現(xiàn)狀,并詳細(xì)介紹了綜合孔徑微波輻射成像原理。在此基礎(chǔ)上,從天線(xiàn)陣列形式的角度,對(duì)綜合孔徑輻射計(jì)系統(tǒng)可見(jiàn)度數(shù)據(jù)非均勻分布的情況進(jìn)行分析。然后,將一種非標(biāo)準(zhǔn)快速傅立葉變換算法,用于非均勻采樣樣本的綜合孔徑輻射計(jì)圖像反演計(jì)算,該算法結(jié)合了高斯算子和對(duì)過(guò)采樣樣本的快速傅立葉變換算法,仿真結(jié)果
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