綜合孔徑微波輻射計(jì)通道陣列誤差研究.pdf

1、綜合孔徑微波輻射計(jì)起源于射電天文，近幾年來它已應(yīng)用到探測(cè)領(lǐng)域，同時(shí)對(duì)系統(tǒng)的性能提出了更高的要求。但由于系統(tǒng)誤差的存在會(huì)引起干涉測(cè)量結(jié)果的改變，從而使反演成像質(zhì)量變差。儀器誤差是系統(tǒng)誤差的主要來源，它主要有三部分：天線誤差、接收通道誤差和高速數(shù)字信號(hào)處理器誤差，本論文主要針對(duì)儀器非理想特性導(dǎo)致的接收通道誤差對(duì)可見度函數(shù)和反演亮溫的影響作了具體分析、仿真設(shè)計(jì)、實(shí)現(xiàn)以及其它相關(guān)的研究工作。
　　 本文首先對(duì)引起通道誤差的各誤差源進(jìn)行了

2、詳細(xì)闡述，針對(duì)這些通道誤差，分析了它們對(duì)可見度函數(shù)的影響。理論分析表明：各種通道誤差對(duì)可見度的影響表現(xiàn)為通道誤差等效的可見度單獨(dú)幅度與相位附加項(xiàng)，通道間的串?dāng)_還將使當(dāng)前測(cè)量的可見度疊加上其它可見度的貢獻(xiàn)。在此基礎(chǔ)上分析了可見度幅度和相位附加項(xiàng)對(duì)反演亮溫的影響。
　　 為了分析各種通道誤差對(duì)反演亮溫的影響，本文設(shè)計(jì)了一維綜合孔徑微波輻射計(jì)理想通道仿真系統(tǒng)，同時(shí)給出通道誤差引入方案。給定兩種觀測(cè)場(chǎng)景，通過仿真得到各種通道誤差服從均勻