綜合孔徑輻射計圓環(huán)陣排列優(yōu)化研究.pdf

1、作為測量微波輻射信號的高靈敏度接收機，綜合孔徑微波輻射計在遙感、探測等領(lǐng)域的應(yīng)用已經(jīng)很廣泛。它相比傳統(tǒng)實孔徑輻射計，引入孔徑綜合技術(shù)，很好地解決了空間分辨率與天線尺寸之間的矛盾局面。而作為綜合孔徑輻射計關(guān)鍵技術(shù)的天線陣列排布也與系統(tǒng)分辨率有著千絲萬縷的聯(lián)系。傳統(tǒng)形式的平面陣，如U、T、Y型陣等存在不利于成像的基線冗余問題，于是完美規(guī)避這一問題的均勻圓環(huán)陣得到較大應(yīng)用。本文在這一背景下，針對綜合孔徑微波輻射計圓環(huán)陣排列優(yōu)化開展研究。

2、>　　本文首先對綜合孔徑微波輻射計的理論基礎(chǔ)進行了剖析，分析了均勻圓環(huán)陣陣列的結(jié)構(gòu)以及非均勻采樣等特點，然后以UV采樣覆蓋均勻化為準(zhǔn)則，提出了新的表征UV覆蓋均勻程度的目標(biāo)函數(shù)以及動態(tài)調(diào)整最大速度上限的改進微粒群算法（PSO）。新的算法能充分利用微粒速度所包含的信息，兼顧全局和局部搜索性能。最后，將改進微粒群算法在新目標(biāo)函數(shù)下優(yōu)化后的陣列性能參數(shù)和成像特性與微粒群算法在Cornwell目標(biāo)函數(shù)下優(yōu)化后的結(jié)果進行了對比，表明新的目標(biāo)函數(shù)是