CCD放大器測試方法的研究與實現(xiàn).pdf

1、CCD作為半導體器件的一種，可以完成光學影像到數(shù)字信號的轉化，英文全稱：Charge-coupled Device，中文全稱：電荷耦合器件。CCD在天文學、數(shù)碼攝影，特別是光學與頻譜望遠鏡、光學遙測技術和高速攝影技術等應用廣泛；CCD顯著特點是具有小功耗、小體積、輕重量、長壽命、低噪聲、性能穩(wěn)定、抗沖擊與震動、高靈敏度、低工作電壓、大動態(tài)范圍、快響應速度等。CCD是現(xiàn)代國防武器裝備獲取信息的關鍵部件，是衛(wèi)星的眼睛，在衛(wèi)星定位、資源探測、

2、導彈尋的、衛(wèi)星偵察、微光夜視和天文觀測等系統(tǒng)中得到廣泛應用，在推動裝備的發(fā)展，提高裝備系統(tǒng)的性能和水平等方面發(fā)揮著十分重要的作用。CCD性能的優(yōu)劣直接影響了裝備系統(tǒng)的最終性能。
　　CCD在工藝制作中出現(xiàn)問題，會嚴重影響CCD的性能，CCD失效。常見的失效模式有：飽和輸出電壓低、轉移效率差和暗電流大等。為避免研制出的CCD器件失效，在CCD的研制初期，采用簡單可行的測試方法，準確的測試出放大器的輸入輸出曲線和增益曲線，獲得CCD的

3、直流輸出電壓、增益最大值和工作的線性區(qū)等性能參數(shù)，用于CCD工藝狀態(tài)的監(jiān)控和改善，是非常必要的。
　　本論文正是針對上述問題，以高性能CCD源跟隨放大器為主要的研究對象，在深入分析當今CCD工藝制作技術和CCD工作原理的基礎上，對CCD源跟隨放大器的測試方法進行了詳盡的討論和研究，依據(jù)其他種類放大器測試方法分析思路和國外對CCD源跟隨放大器測試方法的研究，提出了一種適合CCD源跟隨放大器的測試方法，該方法能準確的測試出放大器的輸入