強磁場對ECAP制備的1050合金再結(jié)晶影響的研究.pdf

1、本文采用硬度測試、光學(xué)顯微鏡、透射電鏡等手段，研究了在施加和未施加強磁場的條件下，退火時間和退火溫度對經(jīng)ECAP擠壓2、8道次試樣的再結(jié)晶行為的影響。得出了以下主要結(jié)果:
　　通過觀察在未施加和施加強磁場條件下，ECAP擠壓2和8道次試樣分別在150℃～400℃退火1h試樣的微觀組織發(fā)現(xiàn)，2道次試樣原始的晶粒尺寸為0.86μm。當退火溫度低于250℃時，2道次試樣的變形組織逐漸發(fā)生有序化，變形條帶更為清晰，晶粒內(nèi)部位錯逐漸減少，2

2、00℃的未施加強磁場的晶粒尺寸為1.02μm。而施加強磁場使有序化過程加快，晶粒內(nèi)部位錯密度更低。當退火溫度為250℃時，在所有條件下的試樣中均觀察到了細小的再結(jié)晶核心。當退火溫度為300℃時，2道次試樣中出現(xiàn)再結(jié)晶晶粒。未施加強磁場試樣出現(xiàn)了異常長大現(xiàn)象，晶粒尺寸為1.47μm。施加強磁場試樣的晶粒尺寸更加均勻，晶界更平直，晶粒尺寸為1.13μm。而對8道次試樣進行等時退火時，晶粒尺寸更加均勻，形成的等軸晶也更加細小。隨著溫度的升高，

3、2道次未施加強磁場試樣原始變形織構(gòu)逐漸變?nèi)酢６┘訌姶艌龅脑嚇又饾u由變形織構(gòu)轉(zhuǎn)變?yōu)樵俳Y(jié)晶立方織構(gòu)。8道次試樣的變形織構(gòu)均隨著溫度的升高而轉(zhuǎn)變?yōu)樵俳Y(jié)晶織構(gòu)，但織構(gòu)強度比較弱。當溫度為200℃～250℃，8道次試樣出現(xiàn)了軟化現(xiàn)象，且施加強磁場試樣的硬度值更低。而2道次試樣的軟化現(xiàn)象則出現(xiàn)在250℃～300℃之間。
　　通過觀察在未施加和施加強磁場條件下，ECAP擠壓2和8道次試樣分別在280℃退火5min～12h試樣的微觀組織發(fā)現(xiàn)，2

4、道次試樣在短時間(10min)退火時，未出現(xiàn)再結(jié)晶晶粒，未施加強磁場試樣內(nèi)部存在著高密度的纏結(jié)位錯，晶粒尺寸為0.86μm。施加強磁場試樣內(nèi)部位錯密度很低，亞晶界變得更加清晰，晶粒尺寸為0.94μm。當退火時間為1h時，2道次有無強磁場試樣中均觀察到了再結(jié)晶晶粒，晶粒內(nèi)部位錯進一步減少。施加強磁場試樣的亞晶數(shù)量明顯增加。當時間延長至4h時，2道次試樣的晶粒尺寸均有所增加，并且在未施加強磁場試樣中存在異常長大現(xiàn)象。而當8道次試樣進行短時間

5、(5min)退火時，試樣中已觀察到再結(jié)晶晶粒的出現(xiàn)。退火10min時，8道次試樣內(nèi)部的位錯更低，未施加強磁場試樣的晶粒尺寸為2.50μm。施加強磁場試樣再結(jié)晶晶粒晶界已也十分平直規(guī)整，晶粒尺寸為2.23μm。隨著時間的延長，8道次晶粒尺寸增幅不大。這是由于ECAP擠壓的8道次試樣晶粒已被完全細化，組織比較均勻和穩(wěn)定。而通過TEM可知，未施加強磁場試樣內(nèi)部出現(xiàn)了異常長大的現(xiàn)象，施加強磁場試樣晶粒尺寸比較均勻、穩(wěn)定。隨著退火時間的增加，試樣