SRAM型FPGA測試技術(shù)研究與測試平臺開發(fā).pdf_第1頁
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文檔簡介

1、FPGA作為現(xiàn)場集成技術(shù)的目標(biāo)載體,已經(jīng)被廣泛應(yīng)用。隨著深亞微米超大規(guī)模集成電路的發(fā)展,FPGA的規(guī)模也在迅猛發(fā)展,其測試難度越來越大,測試費用在芯片制造成本中占的比例也越來越大。對FPGA的測試進(jìn)行廣泛而又深入的研究有著重要意義。
　　本文深入研究了SRAM型FPGA的內(nèi)部構(gòu)造,針對FPGA的測試提出了新的觀點和測試方法。采用改進(jìn)型“陣列流水線法”,即并行測試法測試可編程輸入輸出資源(IOB),從而可以診斷多對IOB資源故障;采

2、用基于數(shù)據(jù)選擇器的陣列捆綁法測試可編程邏輯資源(CLB),提高了故障定位的精度和測試效率。
　　設(shè)計實現(xiàn)了FPGA的測試平臺,該平臺由USB2.0通信模塊、測試控制器模塊、被測對象和測試軟件平臺組成的,通過該平臺可完成對FPGA芯片動態(tài)配置、對FPGA施加測試向量并采集測試響應(yīng),通過分析測試響應(yīng)以完成FPGA的測試。該平臺采用USB2.0通信接口有效提高了FPGA測試效率,具有自動化和智能化特點,為FPGA測試?yán)碚摰难芯刻峁┝肆己?/p>

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