HL-2A托卡馬克裝置CVI雜質(zhì)濃度空間分布的測量.pdf

1、雜質(zhì)的存在會嚴(yán)重影響等離子體能量約束品質(zhì)，雜質(zhì)輻射是導(dǎo)致托卡馬克功率損失的主要原因。雖然雜質(zhì)的存在會引起等離子體能量的大量損失，從而影響等離子體的宏觀穩(wěn)定性，約束性質(zhì)，等離子體參數(shù)的徑向分布等，但是等離子體中的雜質(zhì)的光譜信息又可以反映很多重要的等離子體參數(shù)。因此對托卡馬克裝置等離子體中雜質(zhì)光譜的研究一直是磁約束聚變的一個重要課題。
　　光譜法診斷技術(shù)作為一種“非接觸式診斷技術(shù)”，其響應(yīng)時間快,分辨率高，利用光譜診斷可以研究等離子體

2、的溫度、旋轉(zhuǎn)速度、雜質(zhì)分布等系列參數(shù)?？梢姽庾V在光路設(shè)計，探測等方面技術(shù)成熟且造價低廉，可以非常容易地根據(jù)實際需要進(jìn)行安裝，所以其在世界各大托卡馬克裝置中得到了廣泛的應(yīng)用。
　　C是HL-2A托卡馬克內(nèi)部的等離子體中的主要雜質(zhì)之一。C所產(chǎn)生的譜線中CVI譜線的強(qiáng)度較強(qiáng),便于觀察和測量。雜質(zhì)濃度的診斷，將為進(jìn)一步研究等離子體的控制、輸運(yùn)和內(nèi)部的物理機(jī)制等提供必要的物理參數(shù)和實驗數(shù)據(jù)支撐。
　　本文作者參與了HL-2A托卡馬克裝

3、置的光譜診斷組關(guān)于CVI電荷交換復(fù)合光譜采集及中性束發(fā)射光譜采集的實驗。參與了具體的儀器調(diào)試及此后的數(shù)據(jù)采集和分析工作。本文將介紹利用電荷交換復(fù)合光譜（CXRS）和中性束發(fā)射光譜BES診斷相結(jié)合的方法測量雜質(zhì)濃度，在我國的托卡馬克裝置上尚處于起步和探索階段。這種方法避免了絕對光譜強(qiáng)度定標(biāo)的準(zhǔn)確性對實驗結(jié)果的影響，應(yīng)用起來更加方便準(zhǔn)確，并可以推廣應(yīng)用到其它雜質(zhì)的測量。實驗中使用了兩套多道可見光譜診斷系統(tǒng)分別采集了CVI的CXRS與Dα的B