基于VC++的紅外熱成像測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、紅外焦平面陣列技術(shù)以其在技術(shù)上的隱蔽性、抗干擾和高檢測(cè)精度上的優(yōu)勢(shì)，在最近幾十年得到了非常迅速的發(fā)展，并廣泛應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、軍事等各個(gè)領(lǐng)域。隨著技術(shù)的深入發(fā)展，如何準(zhǔn)確描述紅外焦平面陣列的特性逐漸成為了焦平面技術(shù)發(fā)展重要課題。一個(gè)紅外探測(cè)系統(tǒng)，其核心器件當(dāng)然是紅外焦平面陣列，它的性能直接決定著整個(gè)探測(cè)系統(tǒng)質(zhì)量。但是要對(duì)紅外焦平面的性能進(jìn)行評(píng)價(jià)，需要有一個(gè)評(píng)價(jià)焦平面的標(biāo)準(zhǔn)以及一套能夠測(cè)試和評(píng)價(jià)焦平面的測(cè)試系統(tǒng)。目前國(guó)外的紅外技術(shù)發(fā)展遠(yuǎn)遠(yuǎn)

2、領(lǐng)先于國(guó)內(nèi)，與其配套的紅外測(cè)試技術(shù)的發(fā)展也比較成熟，近年來在國(guó)內(nèi)，紅外技術(shù)發(fā)展比較迅速，紅外測(cè)試技術(shù)的發(fā)展也勢(shì)在必行。由于國(guó)外測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格昂貴，因此，自主研發(fā)能夠精確測(cè)試紅外焦平面器件性能的測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)其器件的制造者和使用者來說，都具有非常重要的實(shí)際意義。
　　本論文首先研究了非致冷紅外焦平面陣列器件的測(cè)試原理和方法，在確定各種參數(shù)的算法后，提出了基于VC++6.0平臺(tái)開發(fā)成像測(cè)試系統(tǒng)的總體方案。首先，根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的要求，對(duì)非致冷

3、紅外焦平面采集到的原始數(shù)字信號(hào)進(jìn)行分析，對(duì)紅外焦平面的各個(gè)性能參數(shù)進(jìn)行了測(cè)試，其測(cè)試結(jié)果為評(píng)價(jià)器件的性能提供了重要依據(jù)。同時(shí)提取出焦平面的盲元、非均勻性等信息；然后根據(jù)器件的盲元和非均勻性等信息，利用經(jīng)典的紅外圖像處理算法對(duì)紅外焦平面的原始圖像進(jìn)行了圖像增強(qiáng)，從而能夠非常直觀地看到器件的性能，對(duì)紅外焦平面的測(cè)試系統(tǒng)的評(píng)價(jià)提供了很好的參考；另外，基于VC++6.0的非致冷紅外焦平面測(cè)試系統(tǒng)軟件界面友好，操作比較簡(jiǎn)潔方便，能夠很快得出紅外焦