2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
已閱讀1頁,還剩47頁未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、GaN基半導(dǎo)體材料具有寬禁帶、高電子漂移速度、高熱導(dǎo)率、耐腐蝕、抗輻射等突出優(yōu)點(diǎn),在制作高溫、高頻、大功率電子器件方面有著得天獨(dú)厚的優(yōu)勢。常規(guī)GaN肖特基二極管(SBD)具有高擊穿電壓特性,而在 AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)上采用不同勢壘高度金屬形成復(fù)合肖特基接觸的場效應(yīng)肖特基二極管(FESBD)則兼具高反向擊穿電壓和低正向?qū)妷?,非常適合用作保護(hù)感性負(fù)載電路的續(xù)流二極管,本文針對FESBD進(jìn)行了器件性能的仿真和優(yōu)化分析。
  本研

2、究通過計算基于GaN材料、AlGaN材料和 AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)材料的常規(guī)SBD的I-V特性,成功實(shí)現(xiàn)了反向擊穿特性的仿真,獲得了器件擊穿電壓與材料背景摻雜濃度等參數(shù)的依賴關(guān)系,確立了合理的模型和參數(shù)值范圍?;贏lGaN/GaN異質(zhì)結(jié) SBD的肖特基勢壘高度對器件的影響機(jī)理分析,對不同金屬形成復(fù)合肖特基接觸的SBD研究了低勢壘包圍高勢壘和高勢壘包圍低勢壘兩種復(fù)合方式對器件性能的影響。發(fā)現(xiàn)由于器件中最大電場出現(xiàn)在陽極靠近陰極的邊緣,

3、兩種復(fù)合方式得到的器件性能截然不同,前者性能類似低肖特基勢壘SBD,后者則形成高反向擊穿電壓和低正向?qū)妷旱腇ESBD器件性能:位于陽極邊緣的高勢壘保證了高擊穿電壓(達(dá)到同樣高勢壘 AlGaN/GaN SBD的擊穿電壓),位于陽極中部的低勢壘導(dǎo)致大的正向電流和低導(dǎo)通電壓。改變FESBD中不同肖特基接觸的面積比研究其對 FESBD的性能影響發(fā)現(xiàn),低勢壘接觸面積的增大會增大正反向電流,但反向擊穿電壓大小在相當(dāng)大的高/低勢壘面積比(5:1~

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論