密碼芯片測(cè)試流程分析與驗(yàn)證方法研究.pdf

1、密碼芯片測(cè)試在電氣、物理特性等基本參數(shù)的測(cè)試基礎(chǔ)上，還需要對(duì)其密碼服務(wù)功能和性能進(jìn)行測(cè)試。由于密碼芯片種類多、測(cè)試內(nèi)容不盡相同、測(cè)試流程差異大，采用傳統(tǒng)方法構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)，測(cè)試軟件設(shè)計(jì)復(fù)雜，適應(yīng)性不強(qiáng)；采用過程管理思想構(gòu)建基于流程管理的測(cè)試軟件系統(tǒng)，能夠提高對(duì)測(cè)試對(duì)象的適應(yīng)性、降低系統(tǒng)設(shè)計(jì)難度與維護(hù)成本。
　　本文針對(duì)基于流程管理的密碼芯片測(cè)試系統(tǒng)中測(cè)試流程的規(guī)范描述問題、測(cè)試流程的良構(gòu)性分析驗(yàn)證問題，設(shè)計(jì)了密碼芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程

2、三維描述模型，提出了基于Petri網(wǎng)的測(cè)試流程活性分析方法和基于完備樹的測(cè)試流程或分支完整性驗(yàn)證方法。
　　1.為了支持測(cè)試系統(tǒng)中測(cè)試流程規(guī)范描述，設(shè)計(jì)了密碼芯片測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試流程三維描述模型。在分析密碼芯片測(cè)試系統(tǒng)密碼服務(wù)功能與性能測(cè)試流程描述需求的基礎(chǔ)上，參照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ATML，設(shè)計(jì)了包含控制過程元模型、測(cè)試資源元模型、數(shù)據(jù)元模型的三維測(cè)試流程描述模型。同時(shí)給出了三維模型的圖示化表示，支持測(cè)試流程的可視化定義和編輯；給出了三維模型

3、的XML描述，支持測(cè)試流程系統(tǒng)存檔。實(shí)例分析表明，三維描述模型可用于密碼芯片密碼服務(wù)功能與性能測(cè)試流程的規(guī)范描述，支持密碼芯片測(cè)試軟件設(shè)計(jì)，提高了測(cè)試系統(tǒng)對(duì)不同密碼芯片測(cè)試的適應(yīng)性。
　　2.測(cè)試流程的良構(gòu)性是測(cè)試的前提，而活性分析是保證測(cè)試流程良構(gòu)性的基礎(chǔ)，本文提出了基于Petri網(wǎng)的測(cè)試流程活性分析。給出了三維描述模型到Petri網(wǎng)模型的轉(zhuǎn)換規(guī)則，并驗(yàn)證分析了轉(zhuǎn)換前后活性的一致性，利用Petri網(wǎng)分析技術(shù)對(duì)目標(biāo)測(cè)試流程模型進(jìn)行

4、了活性分析，從而等價(jià)實(shí)現(xiàn)對(duì)源測(cè)試流程模型的活性分析。應(yīng)用實(shí)例也表明，該方法為三維描述模型描述的測(cè)試流程活性分析提供了有效的解決途徑。
　　3.測(cè)試流程或分支完整性驗(yàn)證是保證流程良構(gòu)性的重要組成部分，本文提出了基于完備樹的測(cè)試流程或分支完整性驗(yàn)證方法。給出了或分支完整性問題的形式化定義，將或分支判斷條件集轉(zhuǎn)換成或分支矩陣，根據(jù)判斷變量集構(gòu)造一顆完備樹，對(duì)其進(jìn)行有條件裁剪，構(gòu)造完備矩陣，與或分支矩陣比較驗(yàn)證或分支是否完整性，并可判斷或