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文檔簡介
1、晶體管作為重要的電子元器件,既是整個電子行業(yè)的基礎,同時也深刻地影響著行業(yè)的發(fā)展。晶體管特性圖示儀作為測量測試儀器,在晶體管的篩選使用過程中發(fā)揮著重要作用。傳統(tǒng)晶體管特性圖示儀是基于模擬電子線路的純硬件設備,缺少數(shù)字化接口,同時體積較大。隨著嵌入式系統(tǒng)的應用以及微電子技術的發(fā)展,為晶體管特性圖示儀的數(shù)字化、網(wǎng)絡化和智能化發(fā)展提供了技術支撐,本文研究基于嵌入式處理器的晶體管特性圖示儀設計方法,能夠?qū)崿F(xiàn)相關參數(shù)的自動測量、計算與顯示,為高校
2、電子信息類相關專業(yè)提供信息化實驗教學設備。
本文簡介晶體管特性圖示儀原理、單元電路組成及結構特點,基于嵌入式微控制器STM32F103設計了一種數(shù)字化的晶體管特性圖示儀。給出圖示儀硬件體系結構設計,整個系統(tǒng)包括微控制器單元模塊、信號發(fā)生電路模塊、信號采集和調(diào)理模塊以及顯示模塊,重點介紹信號發(fā)生電路和數(shù)據(jù)采集電路的設計,其中信號發(fā)生電路由階梯電流源、階梯電壓源以及掃描電壓源三個部分組成,集電極弱電流信號(精密采樣電阻端電壓)通過
3、儀表放大器放大處理后進行采樣。軟件上基于KeilμVision集成開發(fā)環(huán)境實現(xiàn)測量控制功能,微控制器單元通過SPI接口控制數(shù)字電位器接入電路的阻值而產(chǎn)生基極階梯電流信號,通過DAC輸出可調(diào)模擬電壓產(chǎn)生集電極掃描電壓信號,采用內(nèi)置12位逐次逼近型ADC進行基極和集電極電壓采樣,采用中位值平均濾波算法對連續(xù)多次采樣值進行運算,提高測量精度,通過可變靜態(tài)存儲控制器總線驅(qū)動LCD,對于待測晶體管輸入輸出特性曲線的顯示采用描點法實現(xiàn)。同時,還基于
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