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文檔簡(jiǎn)介
1、憶阻器是具有記憶效應(yīng)的非線性電阻,被稱為第四個(gè)基本電路元件,將其集成在電路中可以大幅度提高數(shù)據(jù)處理器的性能。自2008年惠普實(shí)驗(yàn)室成功構(gòu)建出憶阻器的原型開(kāi)始,國(guó)際上掀起了記憶電阻的研究熱潮,不同材料和不同結(jié)構(gòu)的器件的研究工作相繼開(kāi)展。有機(jī)憶阻器件因其工藝簡(jiǎn)單、成本低、存儲(chǔ)密度高等優(yōu)點(diǎn)受到了廣大科研人員的關(guān)注。DNA具有獨(dú)特的雙螺旋結(jié)構(gòu)、自組裝等優(yōu)勢(shì),有望制備成為新型的有機(jī)憶阻器件。本文主要進(jìn)行DNA憶阻器件的構(gòu)建和特性研究,并采用銀納米
2、顆粒(Ag NPs)提高其憶阻性能。
本文采用旋涂法制備了摻雜和嵌入Ag NPs兩種結(jié)構(gòu)類型的DNA憶阻器,并對(duì)這兩種器件的工作機(jī)制和憶阻性能分別進(jìn)行了探討。所做的主要工作如下:
1.以檸檬酸三鈉為還原劑,制備出不同尺寸的Ag NPs,并用原子力顯微鏡(AFM)和透射電子顯微鏡(TEM)對(duì)其形貌進(jìn)行表征;
2.構(gòu)建了結(jié)構(gòu)不同的Al/Ag NPs-DNA-CTMAB/ITO和Al/DNA-CTMAB/Ag N
3、Ps/DNA-CTMAB/ITO兩種憶阻器;
3.研究了摻雜和嵌入Ag NPs對(duì)器件憶阻特性的影響,以及顆粒尺寸和掃描電壓幅值對(duì)兩種結(jié)構(gòu)類型器件憶阻性能的影響;
4.探討了退火對(duì)摻雜Ag NPs器件憶阻性能的影響,實(shí)現(xiàn)了單極向雙極性憶阻開(kāi)關(guān)的轉(zhuǎn)換;
5.探討了電壓極性對(duì)嵌入Ag NPs層器件電學(xué)特性的影響。
6.最后,根據(jù)器件的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和實(shí)驗(yàn)結(jié)果,提出器件中存在載流子直接隧穿、陷阱俘獲和脫陷以及氧
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