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文檔簡介
1、為了揭示(nc-Si/SiO2)/SiO2 半導(dǎo)體量子點(diǎn)中新的物理效應(yīng)及其機(jī)制,并為設(shè)計(jì)和制造具有優(yōu)良性能的量子器件提供物理模型和理論依據(jù),本文應(yīng)用有效質(zhì)量近似理論,較為系統(tǒng)地研究了(nc-Si/SiO2)/SiO2量子點(diǎn)激子的有關(guān)課題。 1、采用球型量子點(diǎn)模型,分別在無限深勢阱和有限深勢阱條件下,計(jì)算了量子點(diǎn)結(jié)構(gòu)(nc-Si/SiO2)/SiO2的激子基態(tài)能級(jí)和波函數(shù),有限深勢阱模型的引進(jìn),使理論計(jì)算更接近實(shí)際情況。
2、2、采用變分法研究了硅量子點(diǎn)介電受限效應(yīng)(表面極化效應(yīng)),從理論上闡明了硅量子點(diǎn)介電受限效應(yīng)對(duì)受限激子基態(tài)能的影響與量子點(diǎn)的尺度關(guān)系。結(jié)果表明隨著量子點(diǎn)的介電常數(shù)與基質(zhì)的介電常數(shù)之比從大漸變到小,量子點(diǎn)中受限激子的基態(tài)能變得越來越低。當(dāng)量子點(diǎn)的介電常數(shù)與基質(zhì)的介電常數(shù)之比<<1時(shí),受限激子的基態(tài)能趨近極限,并不是無限的減小。 3、在有效質(zhì)量近似框架下,采用變分法從理論上計(jì)算了不同形狀硅量子點(diǎn)中受限激子的基態(tài)能。結(jié)果表明在體積相同
3、即平均受限尺度相同的情況下,受限激子的基態(tài)能由量子點(diǎn)形狀的對(duì)稱性決定,對(duì)稱性越高,受限激子的基態(tài)能越低。球形的對(duì)稱性最高,立方形的對(duì)稱性最低,所以球形量子點(diǎn)中受限激子的基態(tài)能最低,立方形量子點(diǎn)中受限激子的基態(tài)能最高。 4、硅量子點(diǎn)為間接帶隙結(jié)構(gòu),聲子對(duì)激子躍遷起關(guān)鍵性作用。本文采用線性組合算符和幺正變換的方法研究了聲子對(duì)硅量子點(diǎn)激子基態(tài)能量的影響。結(jié)果表明考慮聲子作用時(shí),電子(空穴)——聲子之間的相互作用能為負(fù),激子的基態(tài)能量明
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