xrf原理-天瑞edx 2800

1、1.什么是XRFXRF:X射線熒光光譜分析(XRayFluescence)人們通常把X射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級X射線叫X射線熒光（X—RayFluescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的

2、能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級X射線被稱為X射線熒光.利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中的每一種元素。在實際應(yīng)用中，有效的元素測量范圍為11號元素（Na）到92號元素（U）。2.X射線熒光的物理原理：X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內(nèi)的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV

3、）和波長（單位：nm）描述。X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內(nèi)層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來，電子的逐放會導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)當(dāng)電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應(yīng)當(dāng)電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不

4、同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光（XRF）。X射線的波長元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：λ=K(Z?s)?2式中K和S是常數(shù)。X射線的能量而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：E=hν=hCλ式中，E為X射線光子的能量

5、，單位為keV；h為普朗克常數(shù)；ν為光波的頻率；C為光速。因此只要測出熒光X射線的波長或者能量就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。3.X射線熒光應(yīng)用及分析a)X射線用于元素分析，是一種新的分析技術(shù)，但在經(jīng)過二十多年的探索以后，現(xiàn)在已完全成熟，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域。b)每個元素的特征X射線的強度

6、除與激發(fā)源的能量和強度有關(guān)外，還與這種元素在樣品中的含量。c)根據(jù)各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。4.X熒光與其它方法比較優(yōu)點:a)分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中EDX2800天瑞儀器成立18年來一直致力于X熒光光譜儀的研發(fā)、生產(chǎn)與銷售，研制的X熒光光譜儀已廣泛應(yīng)用在電子電氣、貴金屬（金、銀、鉑、鈀等）、水泥、鋼鐵礦業(yè)、鍍層厚度等行業(yè)，