基于邊界掃描技術(shù)的混合電路測(cè)試方法與故障診斷研究.pdf

1、隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,電路的集成度越來(lái)越高,使其測(cè)試面臨越來(lái)越多的問(wèn)題。傳統(tǒng)的測(cè)試方法已經(jīng)很難滿足新的測(cè)試要求,尤其是混合電路的廣泛應(yīng)用,使得對(duì)其有效的測(cè)試已變得越來(lái)越重要和緊迫。數(shù)?；旌闲盘?hào)測(cè)試總線標(biāo)準(zhǔn)的提出,為解決高密數(shù)?；旌想娐返臏y(cè)試問(wèn)題提供了手段。研究基于此標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)?；旌想娐窚y(cè)試方法和故障診斷具有重要的理論價(jià)值和實(shí)際意義。
　　本文在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上,對(duì)基于邊界掃描的混合信號(hào)

2、電路中模擬電路部分的測(cè)試方法和故障診斷進(jìn)行了探索和研究。按照IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)提供的測(cè)試結(jié)構(gòu),針對(duì)混合信號(hào)的特點(diǎn),對(duì)其模擬互連中無(wú)源網(wǎng)絡(luò)的參數(shù)測(cè)試模型和基于電壓激勵(lì)的測(cè)試方法進(jìn)行了深入研究,對(duì)IEEE1149.4標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境下有源器件的測(cè)試方法進(jìn)行了探討。并將網(wǎng)絡(luò)撕裂故障診斷方法應(yīng)用到混合信號(hào)邊界掃描測(cè)試結(jié)構(gòu)中,實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜無(wú)源網(wǎng)絡(luò)的故障診斷。
　　測(cè)試結(jié)果表明,所研究的測(cè)試方法和故障診斷方法是可行的,可有效的進(jìn)行參數(shù)測(cè)試和故障診