某彈載多參數(shù)采集存儲(chǔ)裝置的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、導(dǎo)彈飛行試驗(yàn)是檢測(cè)導(dǎo)彈總體性能的重要手段。為了獲取導(dǎo)彈發(fā)射飛行過(guò)程中內(nèi)部各系統(tǒng)的工作狀態(tài)參數(shù)和環(huán)境參量數(shù)據(jù)，就需要在導(dǎo)彈上加裝各種傳感器,安裝類似黑匣子的數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)系統(tǒng)，記錄飛行姿態(tài)、電源、氣源、測(cè)量、控制和執(zhí)行等系統(tǒng)的工作狀態(tài)，并以此數(shù)據(jù)來(lái)評(píng)測(cè)導(dǎo)彈的性能。
　　本論文所述的彈載多參數(shù)采集存儲(chǔ)裝置作為一種彈載測(cè)試系統(tǒng)，采用存儲(chǔ)測(cè)試技術(shù)，以FPGA為主控單元，以FLASH為存儲(chǔ)器，在導(dǎo)彈發(fā)射及飛行過(guò)程中對(duì)振動(dòng)、過(guò)載、溫度等多個(gè)環(huán)境

2、參量以及通過(guò)CAN總線的方式對(duì)彈上控制系統(tǒng)數(shù)字量信息進(jìn)行采集、存儲(chǔ)。飛行試驗(yàn)結(jié)束，回收FLASH存儲(chǔ)器，讀出數(shù)據(jù)，供后期分析。
　　本文主要根據(jù)任務(wù)要求，分析了此彈上多參數(shù)采集存儲(chǔ)裝置設(shè)計(jì)中的關(guān)鍵技術(shù)，難點(diǎn)問(wèn)題，提出了總體設(shè)計(jì)方案，闡述了數(shù)據(jù)記錄器各部分電路的軟、硬件設(shè)計(jì)。
　　針對(duì)模擬量與數(shù)字量數(shù)據(jù)要同時(shí)可靠存儲(chǔ)在FLASH中的問(wèn)題，文中提出了FPGA片內(nèi)FIFO的設(shè)計(jì)使用和信號(hào)混合編幀存儲(chǔ)的方法，減少了系統(tǒng)外圍器件，提高

3、了系統(tǒng)集成度。針對(duì)存儲(chǔ)器可靠回收的問(wèn)題，提出了存儲(chǔ)器模塊單獨(dú)防護(hù)的方案。對(duì)存儲(chǔ)模塊進(jìn)行最小化設(shè)計(jì)，并在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上對(duì)其進(jìn)行重點(diǎn)防護(hù)，保證記錄數(shù)據(jù)的有效回收。通過(guò)地面讀數(shù)裝置，實(shí)現(xiàn)了與上位機(jī)的USB總線數(shù)據(jù)傳輸。
　　結(jié)合本系統(tǒng)，從PCB布局、布線、接地、去耦、濾波以及電磁屏蔽等方面對(duì)電磁兼容性設(shè)計(jì)進(jìn)行了綜合闡述。聯(lián)試試驗(yàn)表明，本系統(tǒng)符合彈上系統(tǒng)的電磁兼容性要求，經(jīng)過(guò)實(shí)際飛行試驗(yàn)，得到了很好的驗(yàn)證。
　　本文在最后介紹了此彈上多