靜電放電與PCB能量耦合關(guān)系的實驗研究.pdf

1、隨著電子工業(yè)的迅速發(fā)展，靜電放電對各種微電子器件和電子系統(tǒng)的危害越來越嚴重，電子系統(tǒng)的靜電防護已成為一個急需解決的重要科技問題。解決這個問題的關(guān)鍵是掌握電子系統(tǒng)對靜電放電的耦合機理和能量耦合關(guān)系。目前，對靜電放電規(guī)律還沒完全掌握，靜電放電輻射場的測試技術(shù)不成熟，國內(nèi)外對電子系統(tǒng)與靜電放電間的能量耦合研究還處于起步階段，電子系統(tǒng)的防靜電設(shè)計缺少理論和實驗依據(jù)，可供參考的研究方案也極少。 為了避開了靜電放電理論及靜電放電輻射場的測試

2、技術(shù)不足的限制，本研究采用具有一定功能的自制印制電路板（PCB）作為受試電子系統(tǒng)，試圖從被干擾體（電子系統(tǒng)）本身的電參數(shù)和靜電放電電壓上探索電子系統(tǒng)與靜電放電間能量耦合的規(guī)律。這在實驗方法上是個創(chuàng)新，以前很多研究都是從靜電放電的瞬態(tài)過程及其輻射場上來研究電子系統(tǒng)的耦合規(guī)律的，但受條件的限制，這方面的研究并不全面和完善。 本實驗將具有一定功能的自制PCB置于IEC61000—4—2靜電放電抗擾度測試平臺上，對水平耦合板進行了接觸式

3、放電實驗。分別測試了PCB在不同放置方式、不同放電電壓、不同放電極性下的某敏感器件輸入端的耦合電壓峰值和耦合電流峰值。分析并總結(jié)了接觸式放電時，耦合電壓峰值和耦合功率的極限值隨放電電壓、耦合電路電參數(shù)等因素的變化規(guī)律。 對接觸式放電時的實驗規(guī)律做了理論分析和討論，分析了這種放電方式下的主要耦合途徑和耦合機理，建立了耦合模型并利用Pspice進行了仿真模擬。通過對比仿真結(jié)果和實驗結(jié)果，證明了理論分析和建模的正確性。 在前面