Fe、Ni共摻雜ZnO薄膜的制備和性質(zhì)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、ZnO是一種寬帶隙的半導體材料,室溫下它的能隙寬度為3.37eV,激子束縛能高達60meV,具備優(yōu)異的紫外發(fā)光條件,展現(xiàn)出在藍光及紫外光發(fā)光二極管、激光器和光探測器上的重要應用價值。同時,根據(jù)理論預測,過渡金屬摻雜的ZnO可以獲得居里溫度高于室溫的鐵磁性,它可廣泛應用于自旋場效應晶體管(Spin—FET)、自旋發(fā)光二極管(Spin—LED)等器件,使器件速度更快,體積更小,功耗更低,穩(wěn)定性更好。光學和磁性這兩個自由度都有望應用在新型的電

2、子信息材料器件之中,因此倍受人們的關注。 本文采用溶膠—凝膠法(Sol—gel)制備Fe、Ni單摻雜和(Fe,Ni)共摻雜ZnO基稀磁半導體薄膜。利用二水醋酸鋅水解獲ZnO溶膠,經(jīng)過旋涂鍍膜,在不同摻雜情形下制備ZnO薄膜,在大量實驗探索和理論計算的基礎上,對樣品光學特性及磁性行為進行了初步的探究和分析。具體工作如下: 首先,采用基于密度泛函平面波贗勢方法(PWP)第一性原理計算了純凈ZnO、Fe、Ni單摻雜和(Fe,N

3、i)共摻雜ZnO的電子結(jié)構(gòu)和光學性質(zhì)。從計算后的總態(tài)密度結(jié)果中發(fā)現(xiàn),Ni摻雜ZnO具有較大的價帶和導帶彌散性,Ni和O之間的相互作用比Fe和O之間的相互作用具有更高的共價性;基于所得的能帶結(jié)構(gòu)和態(tài)密度的分析討論了它們的光學性質(zhì),與純凈ZnO相比,F(xiàn)e、Ni單摻雜和(Fe,Ni)共摻雜ZnO的介電函數(shù)虛部在0.46eV左右出現(xiàn)了一個新峰值;Fe、Ni單摻雜和共摻雜ZnO的吸收光譜均發(fā)生明顯的紅移,并在1.3eV處出現(xiàn)較強吸收峰。與此同時,

4、實驗方面我們正進一步尋找最佳實驗方案,期望能觀察到高強度的發(fā)光。結(jié)合他人的計算和實驗結(jié)果,我們給出了定性的討論。 其次,采用Sol—gel技術在玻璃基片上旋涂生長了純凈ZnO、Fe,Ni單摻雜及(Fe,Ni)共摻雜ZnO薄膜.顯微照片及XRD圖譜結(jié)果表明,該方法所制備的ZnO薄膜表面均勻致密,都存在(002)擇優(yōu)取向,具有六角纖鋅礦結(jié)構(gòu),晶粒尺寸平均在13nm左右.光致發(fā)光(PL)測量表明所有樣品薄膜的PL譜主要由較強的紫外發(fā)光

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