高介電常數(shù)材料和噪聲抑制材料的太赫茲光譜測量.pdf

1、隨著電子科技的不斷發(fā)展,高性能計算機及電子設備對電子材料性能的要求越來越高,其中材料的介電常數(shù)是評價和衡量材料性能的重要指標之一。高介電常數(shù)材料可以減小元器件體積,實現(xiàn)產(chǎn)品多功能化、高速化,并對計算機和電子工業(yè)產(chǎn)生深遠的影響。計算機和電子設備的性能、工作頻率和集成度的提高必然帶來電磁兼容的問題,對電子設備的抗干擾能力也提出了更高的要求,對元器件的噪聲抑制也提出了更高的要求。
　　本論文通過溶膠凝膠高溫燒結方法制備的高介電常數(shù)材料,

2、通過硫化橡膠中摻加不同含量的磷化羰基鐵粉制備了噪聲抑制材料。傳統(tǒng)的對此種材料的研究方法以差熱分析和熱失重分析,X射線衍射分析(XRD),掃描電鏡分析(SEM)為主,但在頻域為0.1-3TH這個頻段內鮮有研究,此頻段的電磁波具有低能量(安全可靠)、良好的瞬態(tài)和較高的信噪比,已經(jīng)受到廣泛的關注并應用于多方領域。本論文通過太赫茲時域光譜技術對高介電常數(shù)材料和噪聲抑制材料做了不同厚度、不同組分的探測,獲得不同材料的時域圖,并通過傅立葉變換得到頻

3、域圖,經(jīng)過數(shù)據(jù)處理獲得每種樣品材料的獨特吸收譜、透射譜和反射譜,并對不同材料、不同厚度、不同組分的材料的吸收、透射和反射特點進行綜合分析。并對高介電常數(shù)材料利用傳統(tǒng)方法得到高介電常數(shù)材料100Hz-200kHz的介電常數(shù)曲線,通過太赫茲時域光譜技術對數(shù)據(jù)計算處理得出高介電常數(shù)材料在太赫茲波段的介電常數(shù)曲線,并同低頻下介電常數(shù)變化趨勢相比較。結果表明,制備的高介電常數(shù)材料具有較高的介電常數(shù)并隨著頻率升高而下降,在太赫茲波段的基本保持穩(wěn)定。