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1、鐵電薄膜的厚度尺寸為納米級(jí)時(shí),其漏電流的大小會(huì)直接影響著鐵電薄膜的保持性能、疲勞、老化,等等,從而阻礙鐵電薄膜及其器件的實(shí)用化發(fā)展進(jìn)程。因此,我們要尋找合適的方法來(lái)降低鐵電薄膜的漏電流。在鐵電薄膜制備過程中,應(yīng)力不可避免的會(huì)存在于薄膜與襯底及電極之間,它的存在對(duì)鐵電薄膜的制備和性能有很大的影響,對(duì)應(yīng)力的掌握有助于我們合理地利用應(yīng)變來(lái)控制鐵電薄膜的漏電流。另外,氧化物材料中會(huì)存在氧空位,氧空位會(huì)影響鐵電薄膜的漏電流,而摻雜是改善鐵電薄膜性
2、能的有效方法。因此,為了尋找抑制鐵電薄膜漏電流,提高鐵電薄膜及鐵電存儲(chǔ)器性能的方法,我們從應(yīng)變和摻雜兩方面著手來(lái)研究它們對(duì)鐵電薄膜的漏電流的調(diào)控作用。
1、鐵電薄膜漏電流的應(yīng)變調(diào)控:基于密度泛函理論的第一性原理并結(jié)合非平衡格林函數(shù),探討了應(yīng)變對(duì)BaTiO3鐵電薄膜漏電流的影響規(guī)律。研究表明,壓應(yīng)變能有效的抑制BaTiO3鐵電薄膜漏電流,特別是當(dāng)壓應(yīng)變?yōu)?%時(shí),其漏電流將相對(duì)無(wú)應(yīng)變狀態(tài)降低了近10倍。通過考察體系的透射系數(shù)和電子
3、態(tài)密度,我們發(fā)現(xiàn):一方面壓應(yīng)變狀態(tài)下鐵電隧道結(jié)的透射幾率要比張應(yīng)變時(shí)小,特別是在費(fèi)米面附近;另一方面隨著張應(yīng)變過渡至壓應(yīng)變時(shí),價(jià)帶的位置逐漸向低能區(qū)移動(dòng)而導(dǎo)帶向高能區(qū)移動(dòng),導(dǎo)致了它們帶隙的增大,從而有效抑制了漏電流。本研究為尋找抑制鐵電薄膜漏電流,提高鐵電薄膜及鐵電存儲(chǔ)器的性能提供合適的方法。
2、摻雜對(duì)氧空位引起的鐵電薄膜漏電流的影響:我們首先探究了氧空位位置對(duì)PbTiO3薄膜漏電流的影響,然后對(duì)存在氧空位的PbTiO3鐵電
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