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文檔簡介
1、近年來,鈦酸鉍系鐵電薄膜材料在非易性鐵電隨機(jī)存儲器(NvFeRAM)方面展現(xiàn)了十分誘人的應(yīng)用前景。
本實(shí)驗(yàn)采用溶膠-凝膠(Sol-Gel)法成功地制備了摻鑭鈦酸鉍薄膜(Bi3.25La0.75Ti3o12,簡稱BLT),采用磁控濺射法(Magnetron Sputtering)構(gòu)造了BLT鐵電電容器。利用熱重.差熱分析(TG-DTA)、X射線衍射儀(XRD)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、鐵電測試儀(P
2、recision LC Unit)對薄膜樣品的結(jié)構(gòu)、表面形貌、以及鐵電電容器鐵電性能進(jìn)行了研究:
(1)采用Sol-Gel法合成了性能穩(wěn)定的鈦酸鉍(Bi4Ti3O12,簡稱BTO)前驅(qū)體溶液,燒制了不同退火溫度處理的BTO陶瓷微粉,研究發(fā)現(xiàn)隨著退火溫度的升高,微粉的a軸取向度逐漸下降,其中700℃退火處理后微粉的a軸取向度為α700=90.7%;制備了硅基BTO薄膜電容器并系統(tǒng)地測試了其鐵電性能。
(2)合成
3、了性能穩(wěn)定的BLT前驅(qū)體溶液,采用磁控濺射設(shè)備通過控制濺射功率以及氣壓等濺射條件成功地制備了不同取向的Pt/Ti/SiO2/Si(100)襯底材料,并在其上構(gòu)造了BLT薄膜電容器,研究發(fā)現(xiàn)在不同取向以及微觀結(jié)構(gòu)Pt底電極上生長的薄膜具有相似的取向以及微觀結(jié)構(gòu),而采用Pt(111)底電極的電容器具有較大的剩余極化強(qiáng)度2Pr為15.8μC/c㎡。
(3)使用鐵電測試儀系統(tǒng)研究了退火溫度對BLT薄膜電容器電學(xué)性能的影響。退火溫度
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