基于RRAM的DMA模式的測試系統(tǒng)設(shè)計(jì).pdf

1、隨著經(jīng)濟(jì)發(fā)展和技術(shù)的進(jìn)步，非易失性存儲(chǔ)器（NVM）的地位變得越來越重要。FLASH作為NVM的代表，廣泛應(yīng)用于各領(lǐng)域。但是受到最小工藝尺寸的限制，F(xiàn)LASH的發(fā)展前景不容樂觀。由于具有相當(dāng)可觀的微縮化前景，密度高和速度快等特點(diǎn)，阻變存儲(chǔ)器(RRAM)極有可能取代FLASH，成為下一代主流NVM。目前RRAM流片后，主要使用商用測試機(jī)對其作測試。但是，商用測試機(jī)存在操作復(fù)雜，費(fèi)用昂貴，實(shí)用性差等問題，使得RRAM從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的周期大大延長

2、。一般情況下，RRAM有DMA(Direct Memory Access)模式和用戶模式兩種。DMA模式即直接存儲(chǔ)器訪問，是專用于測試RRAM的模式。用戶模式，即用戶實(shí)際使用RRAM進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫。
　　基于上述考慮，本課題開展RRAM的DMA模式的專用測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)工作，擬解決其測試問題。課題研制的測試系統(tǒng)具有實(shí)用性強(qiáng)，操作方便，價(jià)格低廉和性能可靠等特點(diǎn)，可以大大降低RRAM研究單位的測試成本，加快RRAM的研發(fā)。
　　本文

3、首先介紹了商用測試機(jī)的國內(nèi)外研究現(xiàn)狀，討論了RRAM測試面臨的技術(shù)問題。其次介紹了RRAM的基本原理，及其在DMA模式下的測試方法，在此基礎(chǔ)上定義了ATE通信協(xié)議與測試流程，然后設(shè)計(jì)了一款針對RRAM的DMA模式的測試系統(tǒng)。本測試系統(tǒng)有30個(gè)激勵(lì)通道，1個(gè)接收通道，擁有直流參數(shù)測量模塊，可以對RRAM單元進(jìn)行forming，reset和set等基本測試。它主要由上位機(jī)，F(xiàn)PGA，四通道參數(shù)測量單元AD5522和高精度的模數(shù)轉(zhuǎn)換器AD76