倒掛式轉(zhuǎn)臺測試系統(tǒng)的設(shè)計與研究.pdf

1、航空、航天工業(yè)的快速發(fā)展,對慣性元器件的精度提出了更高的要求,轉(zhuǎn)臺被廣泛用來測試慣性元器件的性能,其性能指標(biāo)是保證測試實驗的可靠性和置信度的關(guān)鍵因素。倒掛式轉(zhuǎn)臺測試系統(tǒng)主要用于外場準(zhǔn)動態(tài)試驗,可測試目標(biāo)設(shè)備或者環(huán)境的特性參數(shù)。因此,研制和使用高精度高可靠性的倒掛式轉(zhuǎn)臺測試設(shè)備,對于我國航空、航天工業(yè)和國防建設(shè)的發(fā)展有著重要的意義。
　　 倒掛式轉(zhuǎn)臺測試系統(tǒng)由轉(zhuǎn)臺設(shè)備、地面設(shè)備和工控機(jī)三個部分組成,本文針對轉(zhuǎn)臺設(shè)備和地面設(shè)備兩部分

2、進(jìn)行設(shè)計,轉(zhuǎn)臺部分主要控制轉(zhuǎn)臺旋轉(zhuǎn)和數(shù)據(jù)采集與發(fā)送,地面設(shè)備部分主要控制數(shù)據(jù)接收、存儲、實時顯示和回放。本文在對這兩部分原理進(jìn)行介紹的基礎(chǔ)上,構(gòu)造了轉(zhuǎn)臺子系統(tǒng)和地面子系統(tǒng)的研究方案:首先將轉(zhuǎn)臺子系統(tǒng)分為轉(zhuǎn)臺控制、數(shù)據(jù)采集與發(fā)送、電源管理三個子模塊,研究了由EP1C3T100實現(xiàn)對轉(zhuǎn)臺的驅(qū)動控制,由EP1C3T100實現(xiàn)對ADS8365和TLK2501芯片控制進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和發(fā)送,以及電源模塊的設(shè)計;其次將地面子系統(tǒng)分為數(shù)據(jù)存儲與數(shù)據(jù)回放兩