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1、材料現(xiàn)代分析復(fù)習(xí)題前八單元總結(jié)一、填空題1、影響透射電鏡分辨率的因素主要有:衍射效應(yīng)和電鏡的像差(球差、像散、色差)等。2、透射電子顯微鏡的照明系統(tǒng)由電子槍、聚光鏡和相應(yīng)的平移對(duì)中、傾斜調(diào)節(jié)裝置組成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔經(jīng)角小、平行度好、束流穩(wěn)定的照明源。它應(yīng)滿足明場(chǎng)和暗場(chǎng)成像需求。3、透射電子顯微鏡的成像系統(tǒng)主要是由物鏡、中間鏡和投影鏡組成。4、當(dāng)X射線管電壓超過(guò)臨界電壓就可以產(chǎn)生特征譜X射線和連續(xù)譜X射線。5、X射線與物
2、質(zhì)相互作用可以產(chǎn)生散射、入射、透射、吸收6、經(jīng)過(guò)厚度為H的物質(zhì)后,X射線的強(qiáng)度為IH=I0exp(μH)。7、X射線的本質(zhì)既有波動(dòng)性也是粒子性,具有波粒二象性。8、短波長(zhǎng)的X射線稱硬X射線,常用于衍射分析;長(zhǎng)波長(zhǎng)的X射線稱軟X射線,常用于熒光分析。9、德拜相機(jī)有兩種,直徑分別是57.3mm、114.6mm。測(cè)量θ角時(shí),底片上每毫米對(duì)應(yīng)2和1。10掃描電子顯微鏡常用的信號(hào)是二次電子和背散射電子。11、衍射儀的核心是測(cè)角儀圓,它由試樣臺(tái)、輻
3、射源和探測(cè)器共同組成。12、可以用作X射線探測(cè)器的有氣體電離計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器、半導(dǎo)體計(jì)數(shù)器等13、影響衍射儀實(shí)驗(yàn)結(jié)果的參數(shù)有狹縫寬度、掃描速度和時(shí)間常數(shù)等。14、X射線物相分析包括定性分析和定量分析,而定性分析更常用更廣泛。15、第一類應(yīng)力導(dǎo)致X射線衍射線峰線偏移(衍射線條位移);第二類應(yīng)力導(dǎo)致衍射線峰線寬化(線條變寬);第三類應(yīng)力導(dǎo)致衍射線衍射強(qiáng)度降低。16、倒易矢量的方向是對(duì)應(yīng)正空間晶面的法線,倒易矢量的長(zhǎng)度等于對(duì)應(yīng)正空間晶面間距
4、的倒數(shù)。17、X射線物相定量分析方法有外標(biāo)法(單線條法)、內(nèi)標(biāo)法、K值法、直接比較法等。18、TEM中的透鏡有兩種,分別是磁透鏡和電透鏡。19、TEM中的三個(gè)可動(dòng)光欄分別是第二聚光鏡光欄位于第二聚光鏡焦點(diǎn)上,物鏡光欄位于物鏡的背焦面上,A(210)B(220)C(221)D(110)4.當(dāng)電子把所有能量都轉(zhuǎn)換為X射線時(shí),該X射線波長(zhǎng)稱(A)A.短波限λ0;B.激發(fā)限λk;C.吸收限;D.特征X射線5.當(dāng)X射線將某物質(zhì)原子的K層電子打出去
5、后,L層電子回遷K層,多余能量將另一個(gè)L層電子打出核外,這整個(gè)過(guò)程將產(chǎn)生(D)A.光電子;B.二次熒光;C.俄歇電子;D.(AC)9測(cè)定鋼中的奧氏體含量,若采用定量X射線物相分析,常用方法是(B)。A外標(biāo)法B直接比較法C內(nèi)標(biāo)法DK值法。1德拜法中有利于提高測(cè)量精度的底片安裝方法是(C)。A正裝法B倒裝法C不對(duì)稱法D.AB6.有一體心立方晶體的晶格常數(shù)是0.286nm,用鐵靶Kα(λKα=0.194nm)照射該晶體能產(chǎn)生(B)衍射線。A.
6、三條;B.四條;C.五條;D.六條。5電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號(hào)中可用于分析1nm厚表層成分的信號(hào)是(B)A背散射電子B俄歇電子C特征X射線D吸收電子7.一束X射線照射到晶體上能否產(chǎn)生衍射取決于(C)。A是否滿足布拉格條件;B是否衍射強(qiáng)度I≠0;CAB;D晶體形狀。8.電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號(hào)中可用于分析1nm厚表層成分的信號(hào)是(b)。a背散射電子;b.俄歇電子;c.特征X射線。6采用單色X射線照射到粉末的多晶
7、試樣上,衍射花樣用照相底片來(lái)記錄的實(shí)驗(yàn)方法是(A)。A粉末照相法B勞埃法C周轉(zhuǎn)晶體法D衍射儀法9.中心暗場(chǎng)像的成像操作方法是(c)。a以物鏡光欄套住透射斑;b以物鏡光欄套住衍射斑;c將衍射斑移至中心并以物。10.最常用的X射線衍射方法是(B)。A.勞厄法;B.粉末多晶法;C.周轉(zhuǎn)晶體法;D.德拜法。11.測(cè)角儀中,探測(cè)器的轉(zhuǎn)速與試樣的轉(zhuǎn)速關(guān)系是(B)。A.保持同步1﹕1;B.2﹕1;C.1﹕2;D.1﹕0。12.衍射儀法中的試樣形狀是(
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