材料分析方法課后答案

1、1第一章第一章一、選擇題1.用來進行晶體結構分析的X射線學分支是（）A.X射線透射學；B.X射線衍射學；C.X射線光譜學；D.其它2.M層電子回遷到K層后，多余的能量放出的特征X射線稱（）A.Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。3.當X射線發(fā)生裝置是Cu靶，濾波片應選（）ACu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。4.當電子把所有能量都轉換為X射線時，該X射線波長稱（）A.短波限λ0；B.激發(fā)限λk；C.吸收限；D.特征X射線5.當X射線將某

2、物質原子的K層電子打出去后，L層電子回遷K層，多余能量將另一個L層電子打出核外，這整個過程將產(chǎn)生（）（多選題）A.光電子；B.二次熒光；C.俄歇電子；D.（AC）二、正誤題1.隨X射線管的電壓升高，λ0和λk都隨之減小。（）2.激發(fā)限與吸收限是一回事，只是從不同角度看問題。（）3.經(jīng)濾波后的X射線是相對的單色光。（）4.產(chǎn)生特征X射線的前提是原子內層電子被打出核外，原子處于激發(fā)狀態(tài)。（）5.選擇濾波片只要根據(jù)吸收曲線選擇材料，而不需要考

3、慮厚度。（）第二章第二章一、選擇題1.有一倒易矢量為，與它對應的正空間晶面是（）。???????cbag22A.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。2.有一體心立方晶體的晶格常數(shù)是0.286nm，用鐵靶Kα（λKα=0.194nm）照射該晶體能產(chǎn)生（）衍射線。A.三條；B.四條；C.五條；D.六條。3.一束X射線照射到晶體上能否產(chǎn)生衍射取決于（）。A是否滿足布拉格條件；B是否衍射強度I≠0；CAB；D晶體形狀。

4、4.面心立方晶體（111）晶面族的多重性因素是（）。A4；B8；C6；D12。二、正誤題1.倒易矢量能唯一地代表對應的正空間晶面。（）2.X射線衍射與光的反射一樣，只要滿足入射角等于反射角就行。（）3.干涉晶面與實際晶面的區(qū)別在于：干涉晶面是虛擬的，指數(shù)間存在公約數(shù)n。（）4.布拉格方程只涉及X射線衍射方向，不能反映衍射強度。（）5.結構因子F與形狀因子G都是晶體結構對衍射強度的影響因素。（）3六、正誤題1.要精確測量點陣常數(shù)。必須首先

5、盡量減少系統(tǒng)誤差，其次選高角度θ角，最后還要用直線外推法或柯亨法進行數(shù)據(jù)處理。（）2.X射線衍射之所以可以進行物相定性分析，是因為沒有兩種物相的衍射花樣是完全相同的。（）3.理論上X射線物相定性分析可以告訴我們被測材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有多少。（）4.只要材料中有應力就可以用X射線來檢測。（）5.衍射儀和應力儀是相同的，結構上沒有區(qū)別。（）第五章第五章七、選擇題1.若H800電鏡的最高分辨率是0.5nm，

6、那么這臺電鏡的有效放大倍數(shù)是（）。A.1000；B.10000；C.40000；D.600000。2.可以消除的像差是（）。A.球差；B.像散；C.色差；D.AB。3.可以提高TEM的襯度的光欄是（）。A.第二聚光鏡光欄；B.物鏡光欄；C.選區(qū)光欄；D.其它光欄。4.電子衍射成像時是將（）。A.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合；B.中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合；C.關閉中間鏡；D.關閉物鏡。5.選區(qū)光欄在TEM鏡筒中的位置是（）

7、。A.物鏡的物平面；B.物鏡的像平面C.物鏡的背焦面；D.物鏡的前焦面。八、正誤題1.TEM的分辨率既受衍射效應影響，也受透鏡的像差影響。（）2.孔徑半角α是影響分辨率的重要因素，TEM中的α角越小越好。（）3.有效放大倍數(shù)與儀器可以達到的放大倍數(shù)不同，前者取決于儀器分辨率和人眼分辨率，后者僅僅是儀器的制造水平。（）4.TEM中主要是電磁透鏡，由于電磁透鏡不存在凹透鏡，所以不能象光學顯微鏡那樣通過凹凸鏡的組合設計來減小或消除像差，故TE