材料分析測試方法復習重點

1、《材料分析材料分析測試測試方法方法》期末復期末復習要點要點0909273版權(quán)所有2012.6.10第一部分第一部分X射線衍射分析衍射分析1、X射線的發(fā)展歷史：史：18951895年，德國物理學家倫琴倫琴發(fā)現(xiàn)X射線；19121912年，德國物理學家勞埃勞埃發(fā)現(xiàn)X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象，X射線晶體學誕生。2、X射線的本的本質(zhì)X射線本質(zhì)上是一種電磁波電磁波，波長在108cm作用，具有波粒二象性，遵循愛因斯坦關(guān)系式ε=hν=hcλ，p=hλ3、

2、X射線產(chǎn)線產(chǎn)生條件生條件（1）產(chǎn)生自由電子；（2）使自由電子作定向高速運動；（3）在電子運動的路徑上設(shè)置使其突然減速的障礙物。4、X射線譜線譜：X射線強度與波長的關(guān)系曲線，稱之為X射線譜射線譜。分為連續(xù)連續(xù)X射線譜射線譜和特征X射線譜射線譜。5、對連續(xù)對連續(xù)X射線譜線譜的解的解釋（1）根據(jù)經(jīng)典物理學經(jīng)典物理學的理論，一個帶負電荷的電子作加速運動時，電子周圍的電磁場將發(fā)生急劇變化，此時必然要產(chǎn)生一個電磁波，或至少一個電磁脈沖。由于極大數(shù)量

3、的電子射到陽極上的時間和條件不可能相同，因而得到的電磁波將具有連續(xù)的各種波長，形成連續(xù)X射線譜。（2）量子力學量子力學概念，當能量為eV的電子與靶的原子整體碰撞時，電子失去自己的能量，其中一部分以光子的形式輻射出去，每碰撞一次，產(chǎn)生一個能量為hν的光子，即“韌致輻射”。大量的電子到達靶面的時間、條件均不同，而且還有多次碰撞，因而產(chǎn)生不同能量不同強度的光子序列，即形成連續(xù)譜。6、短波限的概念、短波限的概念短波限的定義：極限情況下，能量為e

4、V的電子在碰撞中一下子把能量全部轉(zhuǎn)給光子，那么該光子獲得最高能量最高能量和具有最短波長最短波長，即短波限短波限λ0。強度的最大值在λ0的1.5倍處。即eV=hνmax=hcλ0短波限與激發(fā)電壓的關(guān)系λ0=1.24V（nm）7、特征、特征譜的幾個概念的幾個概念13、選擇選擇反射：反射：原子面對X射線的反射并不是任意的，只有在滿足布拉格定律布拉格定律時才能發(fā)生反射，所以把X射線的這種反射稱為選擇反射選擇反射。14、X射線衍射衍射儀的構(gòu)造（的

5、構(gòu)造（測量動作）作）測角儀構(gòu)造：測角儀構(gòu)造：(1)樣品臺；(2)X射線源；(3)光路布置；(4)測角儀臺面；(5)測量動作。測量動作：測量動作：樣品臺和測角儀臺可以繞軸轉(zhuǎn)動，也可機械連動，機械連動時樣品臺轉(zhuǎn)過θ角時計數(shù)管轉(zhuǎn)2θ角，這樣設(shè)計的目的是使X射線在板狀試樣表面的入射角等于反射角，常稱這一動作為θ—2θ連動連動。15、物相的定性分析基本原理、物相的定性分析基本原理（1）在一定波長的X射線照射下，每種晶體物質(zhì)都給出自己特有的衍射花樣

6、（衍射線的位置和強度）。每種物質(zhì)和它的衍射花樣都是一一對應的。（2）在定性相分析時，通常用d（晶面間距d表征衍射線位置）和I（衍射線相對強度）的數(shù)據(jù)組代表衍射花樣。也就是說，用dI數(shù)據(jù)組作為定性相分析的基本判據(jù)。（2）定性相分析的方法，是將由試樣測得的dI數(shù)據(jù)組（即衍射花樣）與已知結(jié)構(gòu)物質(zhì)的標準dI數(shù)據(jù)組（即標準衍射花樣）進行對比，從而鑒定出試樣中存在的物相。16、物相的定性分析基本步、物相的定性分析基本步驟（1）制備待分析物質(zhì)樣品，用

7、衍射儀法或照相法獲得樣品衍射花樣；（2）確定各衍射線條眾值及相對強度I／I1值(I1為最強線強度)；（3）檢索PDF卡片物相均為未知時，使用數(shù)值索引；（4）核對PDP卡片與物相判定；（5）多相物質(zhì)分析。17、PDF卡片卡片識別識別參照課本3941頁。18、高能、高能電子與子與樣品物品物質(zhì)交互作用交互作用產(chǎn)生的生的電子信息子信息二次電子、背散射電子、吸收電子、特征X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光、透射電子等。第二部分第二部分透射透射電子顯微分析