envi中基于統(tǒng)計學模型的大氣校正方法詳解

1、ENVI中基于統(tǒng)計學模型的大氣校正方法詳解(2011030717:41:03)基于統(tǒng)計學模型的反射率反演的方法主要有平場域法（FlatField，F(xiàn)F）、對數(shù)殘差法（LogResiduals）、內(nèi)部平均法（InternalAverageRelativeReflectance，IARR）、經(jīng)驗線性法(EmpiricalLine)。集中在BasicToolsPreprocessingCalibrationUtilities菜單下。1.1.平

2、場域定標平場域定標(Flat(FlatFieldFieldCalibration)Calibration)FlatField定標工具通過選擇圖像中一塊具有高反射率、光譜變化平坦的區(qū)域，利用這個區(qū)域的平均光譜值來模擬飛行時的大氣條件下的太陽光譜。將每個像元的DN值除以選擇區(qū)域的平均光譜值得到相對反射率，以此來消除大氣的影響。在使用這個工具前，需要利用ENVI提供的感興趣區(qū)繪制工具（ROITool）在被定標圖像上選擇感興趣區(qū)作為平場域（Fl

3、atField），感興趣區(qū)可選擇沙漠、大塊水泥地、沙地等區(qū)域。操作過程如下：（1）在主菜單中，選擇BasicToolsPreprocessingCalibrationUtilitiesFlatField。在打開的CalibrationInputFile對話框中，選擇輸入文件，單擊“OK”。（2）在打開的FlatFieldCalibrationParameters面板中（圖13.4），在標有“ROIfCalibration”一欄中，選擇感

4、興趣區(qū)（只能選擇一個），作為平場域定標的平均波譜區(qū)。（3）選擇輸出路徑及文件名，單擊“OK”執(zhí)行定標處理。圖13.4FlatFieldCalibrationParameters面板2.2.對數(shù)殘差（對數(shù)殘差（LogLogResidualsResiduals）對數(shù)殘差定標工具將數(shù)據(jù)除以波段幾何均值，后再除以像元幾何均值，可以消除光照、大氣傳輸、儀器系統(tǒng)誤差、地形影響和星體反照率對數(shù)據(jù)輻射的影響。定標結(jié)果的值在1附近。操作過程如下：圖13.

5、5EmpiricalLineSpectra面板?選擇數(shù)據(jù)（圖像）波譜在EmpiricalLineSpectra對話框中，單擊“ImptSpectra”按鈕，打開DataSpectralCollection對話框（圖13.6）。在DataSpectralCollection對話框中，選擇ImptfromROIEVFfrominputfile，選擇定義好的感興趣區(qū)文件，點擊“Apply”，波譜名被輸入到EmpiricalLineSpectr