高壓拉孤

1、電弧等級代表偵測的電流峰值通常采用第5級電弧偵測靈敏度設定偵測峰值電流值Level92.8mApeakLevel85.5mApeakLevel77.7mApeakLevel610mApeakLevel5(出廠默認值)12mApeakLevel414mApeakLevel316mApeakLevel218mApeakLevel120mApeak一般高阻抗電弧與電暈產(chǎn)生的高頻脈沖其頻率可在低于30千赫至高于1兆赫范圍內(nèi)變動而且持續(xù)時間可能很

2、短.這些脈沖常常持續(xù)不足10微秒這些短時脈沖或尖峰信號不一定會立即導致?lián)舸┓烹姷珜贊撛谄焚|(zhì)影響.安規(guī)測試面面觀安規(guī)測試面面觀─高阻抗電弧的深度探討高阻抗電弧的深度探討前言：前言：以全球市場的觀點而言，產(chǎn)品制造廠商必須依照不同的安規(guī)測試標準來生產(chǎn)符合不同國界產(chǎn)品的需要。例如銷往歐洲的產(chǎn)品要符合如IEC（國際電工技術委員會）或EN（歐洲標準），或是以美國市場為主的UL標準等。就提高產(chǎn)品的安全性與可靠性來說，抗電測試（通常稱為高壓測試、瞬間測

3、試或安規(guī)測試）就是產(chǎn)品的品質(zhì)保證，也是日后產(chǎn)品能正常運作的依據(jù)。所謂的高壓測試就是把比正常電壓高的電壓加在被測設備（DUT）的通電流導體與不通電流部件之間，其目的是檢測絕緣超過正常運作上可能遇到的情況。而高壓測試則是被用來證明被測設備能在額定電壓下安全地運作，而且能夠「抵抗」由電源開關而來或其它類似的市電輸入電壓現(xiàn)象引起的瞬間超壓。這種測試也是用來尋找產(chǎn)品缺陷非常有效的方法，例如：導體之間的間隔減小或是絕緣損壞。是什么構成介質(zhì)電擊穿呢？

4、應該把高阻抗打飛弧(Arcing)的情況看作一種介電失效嗎？最大容許泄漏電流該怎樣正確設置呢？當使用不同高壓測試儀來測試產(chǎn)品時，其產(chǎn)生的測試結(jié)果常常出現(xiàn)這些問題。在高壓儀器中使用的失效探測線路類型與電流靈敏度設置常常因幾個原因而改變。這些原因包括所測試產(chǎn)品的類型與結(jié)構和它們所必須符合的技術規(guī)格（標準）。為了確任適合用途的正確設置，我們必須先弄清楚“介電擊穿(DielectricBreakdown)”和“擊穿放電(disruptivedi

5、sges)”的一般定義。什么是介質(zhì)崩潰？（什么是介質(zhì)崩潰？（DielectricBreakdown）介質(zhì)崩潰的定義是：介電擊穿是當加在電介質(zhì)材料上的電場強度超過臨界值時，流過該電介質(zhì)材料電流的突然增大，而電介質(zhì)材料完全失效的特征是由于一個突然增加的高電壓而導致其擊穿放電。什么是擊穿放電（什么是擊穿放電（DisruptiveDisge）？）？圖一這些短時間的脈沖或尖峰不會立即造成引起電流增大或輸出電壓跌降的擊穿放電。(如上述安全機構標準的

6、規(guī)定)，如果測試電壓降低時電暈停息或者打弧的情況并不表現(xiàn)出電擊或著火的危險，那就不認為是失效。所以雖然某些安全標準許可有電暈的被測設備通過高壓測試，但這種電暈卻表示絕緣系統(tǒng)可能有潛在問題。電弧的結(jié)構不是一成不變的。例如，在間隔相同時兩個圓滑表面之間的擊穿電壓跟兩個尖針之間的會有很大不同。電弧發(fā)生點與探測器之間線路的阻抗與分布電容，也可能影響由電弧探測器監(jiān)視電流波形產(chǎn)生的didt（電流隨時間的變化速率）。而電壓量、上升速率、極性和波形全都

7、影響電暈與電弧情況發(fā)生的速度；溫度、濕度和氣壓則會影響電暈開始出現(xiàn)的電壓和擊穿的電壓電頻。高壓儀怎樣區(qū)分電弧失效和其它的失效？高壓儀怎樣區(qū)分電弧失效和其它的失效？先進高壓測試儀實際上有三個分開的探測器線路去偵測高壓測試中失效發(fā)生的原因（參看圖二）圖二泄漏探測系統(tǒng)泄漏探測系統(tǒng)(HILOLMT)第一個探測器電路是泄漏探測系統(tǒng)(HILOLMT)，這個線路提供一個可調(diào)節(jié)的最小電流值、可透過程控或者儀器內(nèi)存的最大電流值，并以每秒3~5次的取樣速率