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1、一涂層厚度厚度測(cè)定(一)新(一)新GB(征求意(征求意見稿)稿)GBT13448—20051范圍本方法適用于彩色涂層鋼板及鋼帶(以下簡(jiǎn)稱彩涂板)表面涂層厚度的測(cè)定。本方法規(guī)定了磁性測(cè)厚儀法、手持式千分尺法(以下簡(jiǎn)稱千分尺法)、金相顯微鏡法和鉆孔破壞式顯微觀察法四種彩涂板涂層厚度測(cè)定方法。磁性測(cè)厚儀法:適用于以冷軋板、鍍鋅板為基板的彩涂板涂層厚度的測(cè)定。若涂層厚度低于3μm時(shí)則本方法不適用。千分尺法:適用于各種材料為基板的彩涂板涂層厚度的
2、測(cè)定。在千分尺測(cè)量裝置負(fù)荷下容易變形的涂層則本方法不適用。金相顯微鏡法:適用于以各種材料為基板的彩涂板涂層厚度的測(cè)定。鉆孔破壞式顯微觀察法:適用于各種材料為基板的彩涂板涂層厚度的測(cè)定。當(dāng)各涂層界面可清晰分辨時(shí),亦可適用于各涂層(初涂層、精涂層)厚度的分別測(cè)定。2原理2.1磁性測(cè)厚儀法利用電磁場(chǎng)磁阻原理,以流入鋼鐵基板的磁通量大小來測(cè)定涂層厚度。2.2手持式千分尺法通過測(cè)定彩涂板涂層去除前后厚度的差值來檢測(cè)涂層厚度。2.3金相顯微鏡法利用
3、彩涂板斷面涂層和金屬基板的光反射率不同,從而測(cè)量彩涂板涂層厚度。2.4鉆孔破壞式顯微觀察法利用鉆孔機(jī)在彩涂板涂層中鉆出一定錐度的圓孔,通過光學(xué)顯微鏡觀測(cè)涂層,對(duì)涂層界面進(jìn)行定位,測(cè)量出水平距離并根據(jù)錐度換算成涂層的厚度。3儀器和材料3.1磁性測(cè)厚儀3.1.1當(dāng)涂層厚度不大于50μm時(shí),儀器示值誤差為1μm。3.1.2當(dāng)涂層厚度大于50μm時(shí),儀器示值誤差為2μm。3.1.3已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)片(非磁性膜厚),厚度應(yīng)與被測(cè)涂層相近。3.2千分
4、尺3.2.1數(shù)顯型,儀器示值誤差為0.001mm。3.2.2測(cè)量頭為圓形平面狀,直徑小于5mm。3.3金相顯微鏡3.3.1目鏡帶標(biāo)尺的顯微鏡,儀器示值誤差為2.5μm。3.3.2適當(dāng)牌號(hào)的金相砂紙。3.3.3固定試樣用材料(如樹脂),應(yīng)對(duì)涂層無損害作用,其顏色明顯區(qū)別于涂層。5.4.2將試樣放在測(cè)量臺(tái)上,調(diào)節(jié)顯微視頻圖像系統(tǒng),使縮孔處涂層各界面均可清楚成像于視頻上。利用顯微視頻圖像系統(tǒng)的標(biāo)尺即可直接讀出各涂層厚度。6結(jié)果的表示6.1磁性
5、測(cè)厚儀法3個(gè)不同測(cè)量部位涂層厚度的算術(shù)平均值,即為該試樣的涂層厚度,以微米(μm)表示。6.2千分尺法每個(gè)測(cè)量部位兩次厚度讀數(shù)之差為該部位涂層厚度。3個(gè)不同測(cè)量部位涂膜厚度的算術(shù)平均值,即為該試樣的涂層厚度,以微米(μm)表示。6.3金相顯微鏡法7個(gè)不同測(cè)量部位涂層厚度的算術(shù)平均值,即為該試樣的涂層厚度,以微米(μm)表示。6.4鉆孔破壞式顯微鏡觀察法在所測(cè)量的縮孔中至少取2個(gè)不同測(cè)量部位的算術(shù)平均值,即為該試樣的涂層厚度,以微米(μm
6、)表示。7試驗(yàn)報(bào)告試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括下列內(nèi)容:a.采用的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)商條款;b.儀器型號(hào);c.試樣信息;d.試驗(yàn)結(jié)果;e.試驗(yàn)日期和試驗(yàn)人員。(二)(二)現(xiàn)行GBGBT13448—1992只有磁性測(cè)厚儀法與金相顯微鏡法,方法同(一)。(一)。沒有千分尺法和鉆孔破壞式顯微觀察法。(三)(三)ASTMD100595、D1186011D1005只有千分尺法,沒有磁性測(cè)厚儀法、金相顯微鏡法和鉆孔破壞式顯微觀察法。D1186只有磁性測(cè)厚儀法、電子儀法
7、。2千分尺法分A、B、C、D四種測(cè)試方法。A用固定式千分尺測(cè)量平整、堅(jiān)硬表面上的涂膜厚度;B用固定式千分尺測(cè)量能夠完整剝離的涂膜厚度;C用手持式千分尺測(cè)量平整、堅(jiān)硬表面上的涂膜厚度;D用手持式千分尺測(cè)量能夠完整剝離的涂膜厚度。A、C不能用于測(cè)量小于12.5μm的膜厚,B和D能夠測(cè)量的最小膜厚取決于自由膜的制備。3固定式千分尺見圖1,由一個(gè)堅(jiān)硬底座,一個(gè)可上下移動(dòng)、帶直徑為1.53mm圓形平底壓腳(測(cè)量頭)的千分尺,及一個(gè)指示測(cè)量值的轉(zhuǎn)盤
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